METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A MATERIAL FLATTENING COEFFICIENT

The invention concerns a method and device for determining a flattening coefficient (A%) of a granular material. The method comprises the following steps: a) providing a granular material consisting of at least one particle (12), b) projecting a shadow (28) of said particle (12), c) approaching said...

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Hauptverfasser: DE LARRARD, FRANCOIS, DESCANTES, YANNICK, BOUQUETY, MARIE-NOELLE
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator DE LARRARD, FRANCOIS
DESCANTES, YANNICK
BOUQUETY, MARIE-NOELLE
description The invention concerns a method and device for determining a flattening coefficient (A%) of a granular material. The method comprises the following steps: a) providing a granular material consisting of at least one particle (12), b) projecting a shadow (28) of said particle (12), c) approaching said shadow (28) with an ellipse (32), d) determining data of said ellipse (32), e) determining a length and a size of said particle from said data of the ellipse (32), f) determining an elongation factor of one particle (12), g) plotting a distribution curve of the elongation factors, h) constructing a distribution curve of flattening factors by transforming said distribution curve of elongation factors in a common benchmark, by performing an affinity in said benchmark, and i) determining a flattening coefficient (A%) on said distribution curve of flattening factors. L'invention concerne un procédé et un dispositif de détermination d'un coefficient d'aplatissement (A%) d'un matériau divisé. Le procédé comporte les étapes suivantes : a) on amène un matériau divisé composé d'au moins une particule (12),b) on projette une ombre (28) de ladite particule (12), c) on approche ladite ombre (28) par une ellipse (32), d) on détermine des données de ladite ellipse (32), e) on détermine une longueur et une grosseur de ladite particule à partir desdites données de l'ellipse (32), f) on détermine un facteur d'allongement d'une particule (12), g) on trace une courbe de distribution des facteurs d'allongement, h) on construit une courbe de distribution des facteurs d'aplatissement en transformant ladite courbe de distribution des facteurs d'allongement dans un même repère, en effectuant une affinité dans ledit repère, et i) on détermine un coefficient d'aplatissement (A%) sur ladite courbe de distribution des facteurs d'aplatissement.
format Patent
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The method comprises the following steps: a) providing a granular material consisting of at least one particle (12), b) projecting a shadow (28) of said particle (12), c) approaching said shadow (28) with an ellipse (32), d) determining data of said ellipse (32), e) determining a length and a size of said particle from said data of the ellipse (32), f) determining an elongation factor of one particle (12), g) plotting a distribution curve of the elongation factors, h) constructing a distribution curve of flattening factors by transforming said distribution curve of elongation factors in a common benchmark, by performing an affinity in said benchmark, and i) determining a flattening coefficient (A%) on said distribution curve of flattening factors. L'invention concerne un procédé et un dispositif de détermination d'un coefficient d'aplatissement (A%) d'un matériau divisé. Le procédé comporte les étapes suivantes : a) on amène un matériau divisé composé d'au moins une particule (12),b) on projette une ombre (28) de ladite particule (12), c) on approche ladite ombre (28) par une ellipse (32), d) on détermine des données de ladite ellipse (32), e) on détermine une longueur et une grosseur de ladite particule à partir desdites données de l'ellipse (32), f) on détermine un facteur d'allongement d'une particule (12), g) on trace une courbe de distribution des facteurs d'allongement, h) on construit une courbe de distribution des facteurs d'aplatissement en transformant ladite courbe de distribution des facteurs d'allongement dans un même repère, en effectuant une affinité dans ledit repère, et i) on détermine un coefficient d'aplatissement (A%) sur ladite courbe de distribution des facteurs d'aplatissement.</description><edition>7</edition><language>eng ; fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2005</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20050210&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2005012882A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20050210&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2005012882A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>DE LARRARD, FRANCOIS</creatorcontrib><creatorcontrib>DESCANTES, YANNICK</creatorcontrib><creatorcontrib>BOUQUETY, MARIE-NOELLE</creatorcontrib><title>METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A MATERIAL FLATTENING COEFFICIENT</title><description>The invention concerns a method and device for determining a flattening coefficient (A%) of a granular material. 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Le procédé comporte les étapes suivantes : a) on amène un matériau divisé composé d'au moins une particule (12),b) on projette une ombre (28) de ladite particule (12), c) on approche ladite ombre (28) par une ellipse (32), d) on détermine des données de ladite ellipse (32), e) on détermine une longueur et une grosseur de ladite particule à partir desdites données de l'ellipse (32), f) on détermine un facteur d'allongement d'une particule (12), g) on trace une courbe de distribution des facteurs d'allongement, h) on construit une courbe de distribution des facteurs d'aplatissement en transformant ladite courbe de distribution des facteurs d'allongement dans un même repère, en effectuant une affinité dans ledit repère, et i) on détermine un coefficient d'aplatissement (A%) sur ladite courbe de distribution des facteurs d'aplatissement.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2005</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHD2dQ3x8HdRcPRzUXBxDfN0dlVw8w8CMkNcg3w9_Tz93BUcFXwdgTxPRx8FNx_HkBBXsKizv6ubm6ezp6tfCA8Da1piTnEqL5TmZlB2cw1x9tBNLciPTy0uSExOzUstiQ_3NzIwMDUwNLKwMHI0MiZOFQCqZSwQ</recordid><startdate>20050210</startdate><enddate>20050210</enddate><creator>DE LARRARD, FRANCOIS</creator><creator>DESCANTES, YANNICK</creator><creator>BOUQUETY, MARIE-NOELLE</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20050210</creationdate><title>METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A MATERIAL FLATTENING COEFFICIENT</title><author>DE LARRARD, FRANCOIS ; DESCANTES, YANNICK ; BOUQUETY, MARIE-NOELLE</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2005012882A23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2005</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>DE LARRARD, FRANCOIS</creatorcontrib><creatorcontrib>DESCANTES, YANNICK</creatorcontrib><creatorcontrib>BOUQUETY, MARIE-NOELLE</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>DE LARRARD, FRANCOIS</au><au>DESCANTES, YANNICK</au><au>BOUQUETY, MARIE-NOELLE</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A MATERIAL FLATTENING COEFFICIENT</title><date>2005-02-10</date><risdate>2005</risdate><abstract>The invention concerns a method and device for determining a flattening coefficient (A%) of a granular material. 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