METHOD AND APPARATUS FOR THE CONTACTLESS MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF A COATING ON A SUBSTRATE
The invention relates to a method for the contactless measurement of the thickness of a coating on a substrate (11) such as a bottle (e.g. a glass bottle) or a metal, plastic or ceramic plate. According to the invention, the method comprises at least the following steps consisting in: directing ultr...
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| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | BOURREL, MAURICE CHABAGNO, JEAN-MICHEL |
| description | The invention relates to a method for the contactless measurement of the thickness of a coating on a substrate (11) such as a bottle (e.g. a glass bottle) or a metal, plastic or ceramic plate. According to the invention, the method comprises at least the following steps consisting in: directing ultraviolet radiation at the substrate (1l), capturing the radiation reflected and processing the reflected radiation in order to determine the thickness of the coating on the substrate (11). The invention also relates to an apparatus which is used to perform the inventive method and to the use of said apparatus in a continuous production line or as a control apparatus in order to examine the homogeneity of the coating on a bottle.
L'invention concerne un procédé pour la mesure sans contact de l'épaisseur d'un revêtement présent sur un substrat (11) tel qu'une bouteille, notamment, en verre, ou une plaque en métal, plastique ou céramique. Selon l'invention, le procédé comprend au moins les étapes suivantes on envoie un rayonnement ultraviolet sur le substrat (il) ; on capte le rayonnement réfléchi ; et on traite le rayonnement réfléchi en vue de déterminer l'épaisseur du revêtement de substrat (11). L'invention concerne également un appareil pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention ainsi que l'utilisation d'un tel appareil dans une ligne de production en continu ou bien en tant qu'appareil de contrôle pour étudier l'homogénéité du revêtement sur une bouteille. |
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L'invention concerne un procédé pour la mesure sans contact de l'épaisseur d'un revêtement présent sur un substrat (11) tel qu'une bouteille, notamment, en verre, ou une plaque en métal, plastique ou céramique. Selon l'invention, le procédé comprend au moins les étapes suivantes on envoie un rayonnement ultraviolet sur le substrat (il) ; on capte le rayonnement réfléchi ; et on traite le rayonnement réfléchi en vue de déterminer l'épaisseur du revêtement de substrat (11). L'invention concerne également un appareil pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention ainsi que l'utilisation d'un tel appareil dans une ligne de production en continu ou bien en tant qu'appareil de contrôle pour étudier l'homogénéité du revêtement sur une bouteille.</description><edition>7</edition><language>eng ; fre</language><subject>MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2004</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20040805&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2004065902A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20040805&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2004065902A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BOURREL, MAURICE</creatorcontrib><creatorcontrib>CHABAGNO, JEAN-MICHEL</creatorcontrib><title>METHOD AND APPARATUS FOR THE CONTACTLESS MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF A COATING ON A SUBSTRATE</title><description>The invention relates to a method for the contactless measurement of the thickness of a coating on a substrate (11) such as a bottle (e.g. a glass bottle) or a metal, plastic or ceramic plate. According to the invention, the method comprises at least the following steps consisting in: directing ultraviolet radiation at the substrate (1l), capturing the radiation reflected and processing the reflected radiation in order to determine the thickness of the coating on the substrate (11). The invention also relates to an apparatus which is used to perform the inventive method and to the use of said apparatus in a continuous production line or as a control apparatus in order to examine the homogeneity of the coating on a bottle.
L'invention concerne un procédé pour la mesure sans contact de l'épaisseur d'un revêtement présent sur un substrat (11) tel qu'une bouteille, notamment, en verre, ou une plaque en métal, plastique ou céramique. Selon l'invention, le procédé comprend au moins les étapes suivantes on envoie un rayonnement ultraviolet sur le substrat (il) ; on capte le rayonnement réfléchi ; et on traite le rayonnement réfléchi en vue de déterminer l'épaisseur du revêtement de substrat (11). L'invention concerne également un appareil pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention ainsi que l'utilisation d'un tel appareil dans une ligne de production en continu ou bien en tant qu'appareil de contrôle pour étudier l'homogénéité du revêtement sur une bouteille.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2004</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjL0KAjEQhNNYiPoOC9ZCPH_Aco0bc2iSI9lgeRwSK9GD8_0xig9gMQwz3zBj0Vli4w-ArqhpMCCnCNoHYEOgvGNUfKYYwRLGFMiSY_D6i9nU6uQ-sBRY1si1O4J3JcS0j1zeaCpGt-4-5NnPJ2KuiZVZ5P7Z5qHvrvmRX-3FV1Ku5XazkxUuV_-t3lVwND4</recordid><startdate>20040805</startdate><enddate>20040805</enddate><creator>BOURREL, MAURICE</creator><creator>CHABAGNO, JEAN-MICHEL</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20040805</creationdate><title>METHOD AND APPARATUS FOR THE CONTACTLESS MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF A COATING ON A SUBSTRATE</title><author>BOURREL, MAURICE ; CHABAGNO, JEAN-MICHEL</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2004065902A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2004</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BOURREL, MAURICE</creatorcontrib><creatorcontrib>CHABAGNO, JEAN-MICHEL</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BOURREL, MAURICE</au><au>CHABAGNO, JEAN-MICHEL</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD AND APPARATUS FOR THE CONTACTLESS MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF A COATING ON A SUBSTRATE</title><date>2004-08-05</date><risdate>2004</risdate><abstract>The invention relates to a method for the contactless measurement of the thickness of a coating on a substrate (11) such as a bottle (e.g. a glass bottle) or a metal, plastic or ceramic plate. According to the invention, the method comprises at least the following steps consisting in: directing ultraviolet radiation at the substrate (1l), capturing the radiation reflected and processing the reflected radiation in order to determine the thickness of the coating on the substrate (11). The invention also relates to an apparatus which is used to perform the inventive method and to the use of said apparatus in a continuous production line or as a control apparatus in order to examine the homogeneity of the coating on a bottle.
L'invention concerne un procédé pour la mesure sans contact de l'épaisseur d'un revêtement présent sur un substrat (11) tel qu'une bouteille, notamment, en verre, ou une plaque en métal, plastique ou céramique. Selon l'invention, le procédé comprend au moins les étapes suivantes on envoie un rayonnement ultraviolet sur le substrat (il) ; on capte le rayonnement réfléchi ; et on traite le rayonnement réfléchi en vue de déterminer l'épaisseur du revêtement de substrat (11). L'invention concerne également un appareil pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention ainsi que l'utilisation d'un tel appareil dans une ligne de production en continu ou bien en tant qu'appareil de contrôle pour étudier l'homogénéité du revêtement sur une bouteille.</abstract><edition>7</edition><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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