DEVICE FOR ELECTROMAGNETIC CHARACTERISATION OF A TESTED STRUCTURE

The invention concerns a device for electromagnetic characterisation of a tested structure (2), by evaluating, on a predetermined frequency band, distribution parameters of said structure (2) and parameters characteristic of the spurious rays of said structure (2), comprising an electric signal generator (4), means (8) for transmitting said electric signal to the tested structure (2), means (6) for analysing the signal transmitted by the generator (4) and signals reflected by the structure (2) and signals transmitted by the structure (2), the analysing means (6) comprising means for calculating said parameters. In addition, the electric signal generator (4) is a pulsed signal generator whereof the spectrum is at least as broad as said predetermined frequency band, and the analysing means (6) comprise means for temporal filtering of the signals it receives, to eliminate spurious signals. Ce dispositif de caractérisation électromagnétique d'une structure (2) sous test, par l'évaluation, sur une bande de fréquences prédéterminée, de paramètres de répartition de cette structure (2) et de paramètres caractéristiques des rayonnements parasites de cette structure (2), comporte un générateur (4) de signal électrique, des moyens (8) de transmission de ce signal électrique à la structure (2) sous test, des moyens (6) d'analyse du signal émis par le générateur (4) ainsi que des signaux réfléchis par la structure (2) et des signaux transmis par la structure (2), les moyens d'analyse (6) comportant des moyens de calcul desdits paramètres. En outre, le générateur (4) de signal électrique est un générateur d'un signal impulsionnel dont le spectre est au moins aussi large que ladite bande de fréquences prédéterminée, et les moyens d'analyse (6) comportent des moyens de filtrage temporel des signaux qu'ils reçoivent, pour l'élimination de signaux parasites.