AUTOMATED SYSTEM FOR MEASUREMENT OF AN OPTICAL PROPERTY

A method for automating measurement of an optical property of a sample includes selecting a measurement aperture around a reference point on the sample (38), generating a set of grid nodes that fall within the measurement aperture (68), calculating the radial distance of each node with respect to a reference point within the measurement aperture, and calculating the angular position of each node with respect to the vertical. The method also includes moving a light source (32) and a light detector along the vertical and rotating the sample to measurement positions in which the light source and the light detector are aligned with one of the nodes in the measurement aperture, and measuring the optical property at the measurement position by energizing the light source and interrogating the detector. The calculated radial distances and angular positions are used to control positioning of the light source and the light detector and rotation of the sample. L'invention concerne un procédé permettant d'automatiser la mesure d'une propriété optique d'un échantillon. Ce procédé consiste à choisir une ouverture de mesure autour d'un point de référence sur un échantillon (38), à produire un ensemble de noeuds de grille tombant à l'intérieur de l'ouverture de mesure (68), à calculer la distance radiale de chaque noeud par rapport à un point de référence à l'intérieur de l'ouverture de mesure et à calculer la position angulaire de chaque noeud par rapport à la verticale. Le procédé consiste également à déplacer la source lumineuse (32) et un détecteur de rayonnement le long de la verticale et à faire pivoter l'échantillon dans des positions de mesure dans lesquelles la source lumineuse et le détecteur de rayonnement sont alignés avec un des noeuds dans l'ouverture de mesure, ainsi qu'à mesurer la propriété optique au niveau de la position de mesure en activant la source lumineuse et en interrogeant le détecteur. Les distances radiales et les positions angulaires calculées sont utilisées afin de commander le positionnement de la source lumineuse, du détecteur de rayonnement et de la rotation de l'échantillon.