AUTOMATED SYSTEM FOR MEASUREMENT OF AN OPTICAL PROPERTY

An apparatus for making automated measurements of an optical property of a sample includes a first stage (36) which is movable along a predetermined line, a second stage (50) for holding the sample, as a third stage which is movable along a predetermined line, correspondingly to the motion of the first stage. A light source (18) is mounted on the first stage, and a light detector is mounted on the third stage. The second stage rotates the sample to a selected rotary position. The apparatus also includes a controller for coordinating movement of the first, second, and third stages such that the light source, the sample, and the light detector are optically aligned. L'invention concerne un appareil permettant de mesurer de façon automatique une propriété optique d'un échantillon. Cet appareil comprend un premier étage (36) pouvant être déplacé le long d'une ligne prédéterminée, un deuxième étage (50) destiné à recevoir l'échantillon ainsi qu'un troisième étage pouvant être déplacé le long d'une ligne prédéterminée, en correspondance avec le déplacement du premier étage. Une source lumineuse (18) est montée sur le premier étage et un détecteur de rayonnement est monté sur le troisième étage. Le deuxième étage fait pivoter l'échantillon dans une position rotative choisie. L'appareil comprend également une unité commande servant à coordonner le mouvement des premier, deuxième et troisième étages de façon que la source lumineuse, l'échantillon et le détecteur de rayonnement soient alignés optiquement.