Extreme Ultraviolet Mask Absorber Materials

Extreme ultraviolet (EUV) mask blanks, methods for their manufacture and production systems therefor are disclosed. The EUV mask blanks comprise a substrate; a multilayer stack of reflective layers on the substrate; a capping layer on the multilayer stack of reflecting layers; and an absorber layer...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Varghese, Binni, Rastegar, Abbas, Fong, Hui Ni Grace, Jindal, Vibhu, Liu, Shuwei
Format: Patent
Sprache:eng
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