ION IMPLANTATION APPARATUS AND ION IMPLANTATION METHOD

An ion implantation method in which an ion beam is scanned in a beam scanning direction and a wafer is mechanically scanned in a direction perpendicular to the beam scanning direction, includes setting a wafer rotation angle with respect to the ion beam so as to be varied, wherein a set angle of the...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: KUDO Tetsuya, NINOMIYA Shiro
Format: Patent
Sprache:eng
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