ION IMPLANTATION APPARATUS AND ION IMPLANTATION METHOD
An ion implantation method in which an ion beam is scanned in a beam scanning direction and a wafer is mechanically scanned in a direction perpendicular to the beam scanning direction, includes setting a wafer rotation angle with respect to the ion beam so as to be varied, wherein a set angle of the...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng |
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