GAS-PHASE TUNGSTEN ETCH

Methods of evenly etching tungsten liners from high aspect ratio trenches are described. The methods include a remote plasma etch using plasma effluents formed from a fluorine-containing precursor and a high flow of helium. Plasma effluents from the remote plasma are flowed into a substrate processi...

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Hauptverfasser: WANG XIKUN, PARK SEUNG, LIU JIE, KIM SANG-JIN, WANG ANCHUAN
Format: Patent
Sprache:eng
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