Analytical laser ablation of solid samples for ICP, ICP-MS, and FAG-MS analysis

The present invention facilitates improvements in laser ablation of solid samples to be analyzed by an external inductively coupled plasma (ICP) emission spectrometer, ICP/mass-spectrometer (ICP-MS), or flowing afterglow (FAG) mass spectrometer (FAG-MS) for elemental analysis (ICP and ICP-MS) or mol...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: DYAS MICHAEL R, FRY ROBERT C, ARNOLD MADELINE J, HUGHES STEVEN K
Format: Patent
Sprache:eng
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