Analytical laser ablation of solid samples for ICP, ICP-MS, and FAG-MS analysis
The present invention facilitates improvements in laser ablation of solid samples to be analyzed by an external inductively coupled plasma (ICP) emission spectrometer, ICP/mass-spectrometer (ICP-MS), or flowing afterglow (FAG) mass spectrometer (FAG-MS) for elemental analysis (ICP and ICP-MS) or mol...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng |
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