High permittivity silicate gate dielectric

A field effect semiconductor device comprising a high permittivity silicate gate dielectric and a method of forming the same are disclosed herein. The device comprises a silicon substrate 20 having a semiconducting channel region 24 formed therein. A metal silicate gate dielectric layer 36 is formed...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: WILK GLEN D, SUMMERFELT SCOTT R, WALLACE ROBERT M, ANTHONY JOHN M
Format: Patent
Sprache:eng
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