Methods and apparatus for mask patterning debris removal

Methods and apparatus for laser patterning leverage mask trench debris removal techniques to form etch singulation trenches. In some embodiments, the method includes forming a mask layer on the wafer, forming a pattern in the mask layer using a laser of a laser assembly where the pattern allows sing...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Balakrishnan, Karthik Narayanan, Tatti, Arunkumar, Thirunavukarasu, Sriskantharajah, Peh, Eng Sheng, Park, Jungrae
Format: Patent
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!