Method and apparatus for locating fault cause, and storage medium

A method and an apparatus for locating a fault cause are provided. The method includes: obtaining parameter values of a plurality of running parameters and a parameter value of a fault parameter in preset duration before a wavelength division multiplexing board device is faulty; determining a correl...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bao, Dewei, Xie, Yuming, Gao, Yunpeng, Jin, Sheng, Xiong, Zhiman
Format: Patent
Sprache:eng
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