Method of fabricating FinFET structure

A method of fabricating a semiconductor device includes forming a first well region and a second well region in a semiconductor substrate, forming an isolation region defining a first fin active region and a second fin active region on the semiconductor substrate, forming a sacrificial gate layer on...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: You, Junggun, Jeong, Sukhoon
Format: Patent
Sprache:eng
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