THE PROCESS OF CREATING A LOW-TEMPERATURE OHMIC CONTACT TO SEMICONDUCTORS OF A3B5 TYPE

The process of creating a low-temperature ohmic contact to semiconductors of A3B5 type includes cleaning of the surface of semiconductor plate and spraying of a preheated plate with two contact-creating layers of metal layer and of germanium layer, then a diffusion barrier layer of a refractory comp...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Arsientiev Ivan Nikitovich, Konakova Raisa Vasylivna, Bobyl Alieksandr Vasilievich, Sachenko Anatolii Vasyliovych, Sheremet Volodymyr Mykolaiovych, Boltovets Mykola Sylovych, Novytskyi Serhii Vadymovych, Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych, Ivanov Volodymyr Mykolaiovych, Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych, Tkachenko Oleksandr Kyrylovych
Format: Patent
Sprache:eng ; rus ; ukr
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator Arsientiev Ivan Nikitovich
Konakova Raisa Vasylivna
Bobyl Alieksandr Vasilievich
Sachenko Anatolii Vasyliovych
Sheremet Volodymyr Mykolaiovych
Boltovets Mykola Sylovych
Novytskyi Serhii Vadymovych
Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych
Ivanov Volodymyr Mykolaiovych
Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych
Tkachenko Oleksandr Kyrylovych
description The process of creating a low-temperature ohmic contact to semiconductors of A3B5 type includes cleaning of the surface of semiconductor plate and spraying of a preheated plate with two contact-creating layers of metal layer and of germanium layer, then a diffusion barrier layer of a refractory compound and the outer contact layer, then the adopted structure is annealed in an atmosphere of a mixture of hydrogen and nitrogen. The gold layer with thickness of 150-200 nm is sprayed as the first contact-creating layer, the germanium layer is sprayed with thickness of 10-50 nm, the layer of titanium boride is sprayed as a diffuse layer, and it is performed the rapid thermal annealing of the contact structure within 10-30 seconds at a temperature of 400-500° C. Способ создания низкотемпературного омического контакта к полупроводникам типа А3В5 включает очистку поверхности пластины полупроводника и напыление на предварительно подогретую пластину двух контактообразующих слоев из слоя металла и слоя германия, затем слой диффузионного барьера тугоплавкого соединения и внешний контактный слой, после чего принятую структуру отжигают в атмосфере смеси водорода и азота. Как первый контактообразующий слой напыляют слой золота толщиной 150-200 нм, слой германия напыляют толщиной 10-50 нм, как диффузный слой напыляют слой боридов титана и осуществляют быстрый термический отжиг контактной структуры в течение 10-30 сек. при температуре 400-500 ° C. Спосіб створення низькотемпературного омічного контакту до напівпровідників типу А3В5 включає очищення поверхні пластини напівпровідника і напилення на попередньо підігріту пластину двох контактоутворюючих шарів з шару металу і шару германію, потім шар дифузійного бар'єру тугоплавкої сполуки та зовнішній контактний шар, після чого отриману контактну структуру відпалюють в атмосфері суміші водню та азоту. Як перший контактоутворюючий шар напилюють шар золота товщиною 150-200 нм, шар германію напилюють товщиною 10-50 нм, як дифузійний шар напилюють шар бориду титану і здійснюють швидкий термічний відпал контактної структури протягом 10-30 сек. при температурі 400-500 °C.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_UA97882UU</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>UA97882UU</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_UA97882UU3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqFi7EKwjAQQLM4iPoLcj_QxSLW8TyvpmBzIbkoTqVInEQL9f9RxN3pweO9qTmpZfBBiGMEqYECozbuAAhHORfKreeAmgKD2LYhIHGKpKACkT9C3D6RSvjeWO7WoBfPczO59fcxL36cmWXNSrbIw7PL49Bf8yO_uoTbTVWtUir_Bm9gEC-6</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>THE PROCESS OF CREATING A LOW-TEMPERATURE OHMIC CONTACT TO SEMICONDUCTORS OF A3B5 TYPE</title><source>esp@cenet</source><creator>Arsientiev Ivan Nikitovich ; Konakova Raisa Vasylivna ; Bobyl Alieksandr Vasilievich ; Sachenko Anatolii Vasyliovych ; Sheremet Volodymyr Mykolaiovych ; Boltovets Mykola Sylovych ; Novytskyi Serhii Vadymovych ; Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych ; Ivanov Volodymyr Mykolaiovych ; Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych ; Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</creator><creatorcontrib>Arsientiev Ivan Nikitovich ; Konakova Raisa Vasylivna ; Bobyl Alieksandr Vasilievich ; Sachenko Anatolii Vasyliovych ; Sheremet Volodymyr Mykolaiovych ; Boltovets Mykola Sylovych ; Novytskyi Serhii Vadymovych ; Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych ; Ivanov Volodymyr Mykolaiovych ; Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych ; Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</creatorcontrib><description>The process of creating a low-temperature ohmic contact to semiconductors of A3B5 type includes cleaning of the surface of semiconductor plate and spraying of a preheated plate with two contact-creating layers of metal layer and of germanium layer, then a diffusion barrier layer of a refractory compound and the outer contact layer, then the adopted structure is annealed in an atmosphere of a mixture of hydrogen and nitrogen. The gold layer with thickness of 150-200 nm is sprayed as the first contact-creating layer, the germanium layer is sprayed with thickness of 10-50 nm, the layer of titanium boride is sprayed as a diffuse layer, and it is performed the rapid thermal annealing of the contact structure within 10-30 seconds at a temperature of 400-500° C. Способ создания низкотемпературного омического контакта к полупроводникам типа А3В5 включает очистку поверхности пластины полупроводника и напыление на предварительно подогретую пластину двух контактообразующих слоев из слоя металла и слоя германия, затем слой диффузионного барьера тугоплавкого соединения и внешний контактный слой, после чего принятую структуру отжигают в атмосфере смеси водорода и азота. Как первый контактообразующий слой напыляют слой золота толщиной 150-200 нм, слой германия напыляют толщиной 10-50 нм, как диффузный слой напыляют слой боридов титана и осуществляют быстрый термический отжиг контактной структуры в течение 10-30 сек. при температуре 400-500 ° C. Спосіб створення низькотемпературного омічного контакту до напівпровідників типу А3В5 включає очищення поверхні пластини напівпровідника і напилення на попередньо підігріту пластину двох контактоутворюючих шарів з шару металу і шару германію, потім шар дифузійного бар'єру тугоплавкої сполуки та зовнішній контактний шар, після чого отриману контактну структуру відпалюють в атмосфері суміші водню та азоту. Як перший контактоутворюючий шар напилюють шар золота товщиною 150-200 нм, шар германію напилюють товщиною 10-50 нм, як дифузійний шар напилюють шар бориду титану і здійснюють швидкий термічний відпал контактної структури протягом 10-30 сек. при температурі 400-500 °C.</description><language>eng ; rus ; ukr</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20150410&amp;DB=EPODOC&amp;CC=UA&amp;NR=97882U$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20150410&amp;DB=EPODOC&amp;CC=UA&amp;NR=97882U$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Arsientiev Ivan Nikitovich</creatorcontrib><creatorcontrib>Konakova Raisa Vasylivna</creatorcontrib><creatorcontrib>Bobyl Alieksandr Vasilievich</creatorcontrib><creatorcontrib>Sachenko Anatolii Vasyliovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Sheremet Volodymyr Mykolaiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Boltovets Mykola Sylovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Novytskyi Serhii Vadymovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Ivanov Volodymyr Mykolaiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</creatorcontrib><title>THE PROCESS OF CREATING A LOW-TEMPERATURE OHMIC CONTACT TO SEMICONDUCTORS OF A3B5 TYPE</title><description>The process of creating a low-temperature ohmic contact to semiconductors of A3B5 type includes cleaning of the surface of semiconductor plate and spraying of a preheated plate with two contact-creating layers of metal layer and of germanium layer, then a diffusion barrier layer of a refractory compound and the outer contact layer, then the adopted structure is annealed in an atmosphere of a mixture of hydrogen and nitrogen. The gold layer with thickness of 150-200 nm is sprayed as the first contact-creating layer, the germanium layer is sprayed with thickness of 10-50 nm, the layer of titanium boride is sprayed as a diffuse layer, and it is performed the rapid thermal annealing of the contact structure within 10-30 seconds at a temperature of 400-500° C. Способ создания низкотемпературного омического контакта к полупроводникам типа А3В5 включает очистку поверхности пластины полупроводника и напыление на предварительно подогретую пластину двух контактообразующих слоев из слоя металла и слоя германия, затем слой диффузионного барьера тугоплавкого соединения и внешний контактный слой, после чего принятую структуру отжигают в атмосфере смеси водорода и азота. Как первый контактообразующий слой напыляют слой золота толщиной 150-200 нм, слой германия напыляют толщиной 10-50 нм, как диффузный слой напыляют слой боридов титана и осуществляют быстрый термический отжиг контактной структуры в течение 10-30 сек. при температуре 400-500 ° C. Спосіб створення низькотемпературного омічного контакту до напівпровідників типу А3В5 включає очищення поверхні пластини напівпровідника і напилення на попередньо підігріту пластину двох контактоутворюючих шарів з шару металу і шару германію, потім шар дифузійного бар'єру тугоплавкої сполуки та зовнішній контактний шар, після чого отриману контактну структуру відпалюють в атмосфері суміші водню та азоту. Як перший контактоутворюючий шар напилюють шар золота товщиною 150-200 нм, шар германію напилюють товщиною 10-50 нм, як дифузійний шар напилюють шар бориду титану і здійснюють швидкий термічний відпал контактної структури протягом 10-30 сек. при температурі 400-500 °C.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqFi7EKwjAQQLM4iPoLcj_QxSLW8TyvpmBzIbkoTqVInEQL9f9RxN3pweO9qTmpZfBBiGMEqYECozbuAAhHORfKreeAmgKD2LYhIHGKpKACkT9C3D6RSvjeWO7WoBfPczO59fcxL36cmWXNSrbIw7PL49Bf8yO_uoTbTVWtUir_Bm9gEC-6</recordid><startdate>20150410</startdate><enddate>20150410</enddate><creator>Arsientiev Ivan Nikitovich</creator><creator>Konakova Raisa Vasylivna</creator><creator>Bobyl Alieksandr Vasilievich</creator><creator>Sachenko Anatolii Vasyliovych</creator><creator>Sheremet Volodymyr Mykolaiovych</creator><creator>Boltovets Mykola Sylovych</creator><creator>Novytskyi Serhii Vadymovych</creator><creator>Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych</creator><creator>Ivanov Volodymyr Mykolaiovych</creator><creator>Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych</creator><creator>Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20150410</creationdate><title>THE PROCESS OF CREATING A LOW-TEMPERATURE OHMIC CONTACT TO SEMICONDUCTORS OF A3B5 TYPE</title><author>Arsientiev Ivan Nikitovich ; Konakova Raisa Vasylivna ; Bobyl Alieksandr Vasilievich ; Sachenko Anatolii Vasyliovych ; Sheremet Volodymyr Mykolaiovych ; Boltovets Mykola Sylovych ; Novytskyi Serhii Vadymovych ; Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych ; Ivanov Volodymyr Mykolaiovych ; Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych ; Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_UA97882UU3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus ; ukr</language><creationdate>2015</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Arsientiev Ivan Nikitovich</creatorcontrib><creatorcontrib>Konakova Raisa Vasylivna</creatorcontrib><creatorcontrib>Bobyl Alieksandr Vasilievich</creatorcontrib><creatorcontrib>Sachenko Anatolii Vasyliovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Sheremet Volodymyr Mykolaiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Boltovets Mykola Sylovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Novytskyi Serhii Vadymovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Ivanov Volodymyr Mykolaiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Arsientiev Ivan Nikitovich</au><au>Konakova Raisa Vasylivna</au><au>Bobyl Alieksandr Vasilievich</au><au>Sachenko Anatolii Vasyliovych</au><au>Sheremet Volodymyr Mykolaiovych</au><au>Boltovets Mykola Sylovych</au><au>Novytskyi Serhii Vadymovych</au><au>Bieliaiev Oleksandr Yevhenovych</au><au>Ivanov Volodymyr Mykolaiovych</au><au>Pylypchuk Oleksandr Serhiiovych</au><au>Tkachenko Oleksandr Kyrylovych</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>THE PROCESS OF CREATING A LOW-TEMPERATURE OHMIC CONTACT TO SEMICONDUCTORS OF A3B5 TYPE</title><date>2015-04-10</date><risdate>2015</risdate><abstract>The process of creating a low-temperature ohmic contact to semiconductors of A3B5 type includes cleaning of the surface of semiconductor plate and spraying of a preheated plate with two contact-creating layers of metal layer and of germanium layer, then a diffusion barrier layer of a refractory compound and the outer contact layer, then the adopted structure is annealed in an atmosphere of a mixture of hydrogen and nitrogen. The gold layer with thickness of 150-200 nm is sprayed as the first contact-creating layer, the germanium layer is sprayed with thickness of 10-50 nm, the layer of titanium boride is sprayed as a diffuse layer, and it is performed the rapid thermal annealing of the contact structure within 10-30 seconds at a temperature of 400-500° C. Способ создания низкотемпературного омического контакта к полупроводникам типа А3В5 включает очистку поверхности пластины полупроводника и напыление на предварительно подогретую пластину двух контактообразующих слоев из слоя металла и слоя германия, затем слой диффузионного барьера тугоплавкого соединения и внешний контактный слой, после чего принятую структуру отжигают в атмосфере смеси водорода и азота. Как первый контактообразующий слой напыляют слой золота толщиной 150-200 нм, слой германия напыляют толщиной 10-50 нм, как диффузный слой напыляют слой боридов титана и осуществляют быстрый термический отжиг контактной структуры в течение 10-30 сек. при температуре 400-500 ° C. Спосіб створення низькотемпературного омічного контакту до напівпровідників типу А3В5 включає очищення поверхні пластини напівпровідника і напилення на попередньо підігріту пластину двох контактоутворюючих шарів з шару металу і шару германію, потім шар дифузійного бар'єру тугоплавкої сполуки та зовнішній контактний шар, після чого отриману контактну структуру відпалюють в атмосфері суміші водню та азоту. Як перший контактоутворюючий шар напилюють шар золота товщиною 150-200 нм, шар германію напилюють товщиною 10-50 нм, як дифузійний шар напилюють шар бориду титану і здійснюють швидкий термічний відпал контактної структури протягом 10-30 сек. при температурі 400-500 °C.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; rus ; ukr
recordid cdi_epo_espacenet_UA97882UU
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
SEMICONDUCTOR DEVICES
title THE PROCESS OF CREATING A LOW-TEMPERATURE OHMIC CONTACT TO SEMICONDUCTORS OF A3B5 TYPE
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-05T21%3A45%3A21IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Arsientiev%20Ivan%20Nikitovich&rft.date=2015-04-10&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EUA97882UU%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true