DIGITAL VORTEX-CURRENT DEFECTOSCOPE

A digital eddy-current defectoscope includes a microcontroller, high-frequency generator of timing signals, eddy-current transformer, microcircuit for measurement of complex resistance, to its signal output the input of eddy-current transformer is connected, through connected in parallel digital key...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH, GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH, LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH, LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator	BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH
description	A digital eddy-current defectoscope includes a microcontroller, high-frequency generator of timing signals, eddy-current transformer, microcircuit for measurement of complex resistance, to its signal output the input of eddy-current transformer is connected, through connected in parallel digital key and phase changer. The output of the eddy-current transformer is connected to the measuring output of the micro-circuit for measurement of complex resistance. The generator of timing pulses is connected to the input of the timing signals of micro-controller and micro-circuit for measurement of complex resistance. Information outputs of the microcircuit for measurement of complex resistance are connected to information inputs of the micro-controller. The micro-controller is connected to the control panel, display and digital key. Цифровой вихретоковый дефектоскоп, который содержит микроконтроллер, высокочастотный генератор тактовых сигналов, вихретоковый преобразователь, микросхему измерения комплексного сопротивления, к сигнальному выходу которой через соединенные параллельно цифровой ключ и фазовращатель подключен вход вихретокового преобразователя. Выход вихретокового преобразователя подключен к измерительному входу микросхемы измерения комплексного сопротивления. Генератор тактовых сигналов подключен к входу тактовых сигналов микроконтроллера и микросхемы измерения комплексного сопротивления. Информационные выходы микросхемы измерения комплексного сопротивления связаны с информационными входами микроконтроллера. Микроконтроллер связан с пультом управления, дисплеем и цифровым ключом. Цифровий вихорострумовий дефектоскоп, що містить мікроконтролер, високочастотний генератор тактових сигналів, вихорострумовий перетворювач, мікросхему виміру комплексного опору, к сигнальному виходу якої підключено вхід вихорострумового перетворювача, через паралельно з'єднані цифровий ключ та фазообертач. Вихід вихорострумового перетворювача підключено до вимірювального входу мікросхеми виміру комплексного опору. Генератор тактових сигналів підключено до входу тактових сигналів мікроконтролера і мікросхеми виміру комплексного опору. Інформаційні виходи мікросхеми виміру комплексного опору зв'язані з інформаційними входами мікроконтролера. Мікроконтролер зв'язаний з пультом керування, дисплеєм та цифровим ключем.
format	Patent
fullrecord	<record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_UA82342UU</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>UA82342UU</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_UA82342UU3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZFB28XT3DHH0UQjzDwpxjdB1Dg0KcvULUXBxdXN1DvEPdvYPcOVhYE1LzClO5YXS3Axybq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfGhjhZGxiZGoaHGBBUAALZMIjA</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>DIGITAL VORTEX-CURRENT DEFECTOSCOPE</title><source>esp@cenet</source><creator>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH ; GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH ; LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH ; LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</creator><creatorcontrib>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH ; GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH ; LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH ; LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</creatorcontrib><description>A digital eddy-current defectoscope includes a microcontroller, high-frequency generator of timing signals, eddy-current transformer, microcircuit for measurement of complex resistance, to its signal output the input of eddy-current transformer is connected, through connected in parallel digital key and phase changer. The output of the eddy-current transformer is connected to the measuring output of the micro-circuit for measurement of complex resistance. The generator of timing pulses is connected to the input of the timing signals of micro-controller and micro-circuit for measurement of complex resistance. Information outputs of the microcircuit for measurement of complex resistance are connected to information inputs of the micro-controller. The micro-controller is connected to the control panel, display and digital key. Цифровой вихретоковый дефектоскоп, который содержит микроконтроллер, высокочастотный генератор тактовых сигналов, вихретоковый преобразователь, микросхему измерения комплексного сопротивления, к сигнальному выходу которой через соединенные параллельно цифровой ключ и фазовращатель подключен вход вихретокового преобразователя. Выход вихретокового преобразователя подключен к измерительному входу микросхемы измерения комплексного сопротивления. Генератор тактовых сигналов подключен к входу тактовых сигналов микроконтроллера и микросхемы измерения комплексного сопротивления. Информационные выходы микросхемы измерения комплексного сопротивления связаны с информационными входами микроконтроллера. Микроконтроллер связан с пультом управления, дисплеем и цифровым ключом. Цифровий вихорострумовий дефектоскоп, що містить мікроконтролер, високочастотний генератор тактових сигналів, вихорострумовий перетворювач, мікросхему виміру комплексного опору, к сигнальному виходу якої підключено вхід вихорострумового перетворювача, через паралельно з'єднані цифровий ключ та фазообертач. Вихід вихорострумового перетворювача підключено до вимірювального входу мікросхеми виміру комплексного опору. Генератор тактових сигналів підключено до входу тактових сигналів мікроконтролера і мікросхеми виміру комплексного опору. Інформаційні виходи мікросхеми виміру комплексного опору зв'язані з інформаційними входами мікроконтролера. Мікроконтролер зв'язаний з пультом керування, дисплеєм та цифровим ключем.</description><language>eng ; rus</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2013</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130725&DB=EPODOC&CC=UA&NR=82342U$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130725&DB=EPODOC&CC=UA&NR=82342U$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH</creatorcontrib><creatorcontrib>GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH</creatorcontrib><creatorcontrib>LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH</creatorcontrib><creatorcontrib>LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</creatorcontrib><title>DIGITAL VORTEX-CURRENT DEFECTOSCOPE</title><description>A digital eddy-current defectoscope includes a microcontroller, high-frequency generator of timing signals, eddy-current transformer, microcircuit for measurement of complex resistance, to its signal output the input of eddy-current transformer is connected, through connected in parallel digital key and phase changer. The output of the eddy-current transformer is connected to the measuring output of the micro-circuit for measurement of complex resistance. The generator of timing pulses is connected to the input of the timing signals of micro-controller and micro-circuit for measurement of complex resistance. Information outputs of the microcircuit for measurement of complex resistance are connected to information inputs of the micro-controller. The micro-controller is connected to the control panel, display and digital key. Цифровой вихретоковый дефектоскоп, который содержит микроконтроллер, высокочастотный генератор тактовых сигналов, вихретоковый преобразователь, микросхему измерения комплексного сопротивления, к сигнальному выходу которой через соединенные параллельно цифровой ключ и фазовращатель подключен вход вихретокового преобразователя. Выход вихретокового преобразователя подключен к измерительному входу микросхемы измерения комплексного сопротивления. Генератор тактовых сигналов подключен к входу тактовых сигналов микроконтроллера и микросхемы измерения комплексного сопротивления. Информационные выходы микросхемы измерения комплексного сопротивления связаны с информационными входами микроконтроллера. Микроконтроллер связан с пультом управления, дисплеем и цифровым ключом. Цифровий вихорострумовий дефектоскоп, що містить мікроконтролер, високочастотний генератор тактових сигналів, вихорострумовий перетворювач, мікросхему виміру комплексного опору, к сигнальному виходу якої підключено вхід вихорострумового перетворювача, через паралельно з'єднані цифровий ключ та фазообертач. Вихід вихорострумового перетворювача підключено до вимірювального входу мікросхеми виміру комплексного опору. Генератор тактових сигналів підключено до входу тактових сигналів мікроконтролера і мікросхеми виміру комплексного опору. Інформаційні виходи мікросхеми виміру комплексного опору зв'язані з інформаційними входами мікроконтролера. Мікроконтролер зв'язаний з пультом керування, дисплеєм та цифровим ключем.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2013</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFB28XT3DHH0UQjzDwpxjdB1Dg0KcvULUXBxdXN1DvEPdvYPcOVhYE1LzClO5YXS3Axybq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfGhjhZGxiZGoaHGBBUAALZMIjA</recordid><startdate>20130725</startdate><enddate>20130725</enddate><creator>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH</creator><creator>GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH</creator><creator>LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH</creator><creator>LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20130725</creationdate><title>DIGITAL VORTEX-CURRENT DEFECTOSCOPE</title><author>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH ; GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH ; LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH ; LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_UA82342UU3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus</language><creationdate>2013</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH</creatorcontrib><creatorcontrib>GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH</creatorcontrib><creatorcontrib>LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH</creatorcontrib><creatorcontrib>LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BAZHENOV VIKTOR HRYHOROVYCH</au><au>GLOINIK KOSTIANTYN ANATOLIIOVYCH</au><au>LEPEKHA VOLODYMYR LVOVYCH</au><au>LEPEKHA VIKTOR VOLODYMYROVYCH</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DIGITAL VORTEX-CURRENT DEFECTOSCOPE</title><date>2013-07-25</date><risdate>2013</risdate><abstract>A digital eddy-current defectoscope includes a microcontroller, high-frequency generator of timing signals, eddy-current transformer, microcircuit for measurement of complex resistance, to its signal output the input of eddy-current transformer is connected, through connected in parallel digital key and phase changer. The output of the eddy-current transformer is connected to the measuring output of the micro-circuit for measurement of complex resistance. The generator of timing pulses is connected to the input of the timing signals of micro-controller and micro-circuit for measurement of complex resistance. Information outputs of the microcircuit for measurement of complex resistance are connected to information inputs of the micro-controller. The micro-controller is connected to the control panel, display and digital key. Цифровой вихретоковый дефектоскоп, который содержит микроконтроллер, высокочастотный генератор тактовых сигналов, вихретоковый преобразователь, микросхему измерения комплексного сопротивления, к сигнальному выходу которой через соединенные параллельно цифровой ключ и фазовращатель подключен вход вихретокового преобразователя. Выход вихретокового преобразователя подключен к измерительному входу микросхемы измерения комплексного сопротивления. Генератор тактовых сигналов подключен к входу тактовых сигналов микроконтроллера и микросхемы измерения комплексного сопротивления. Информационные выходы микросхемы измерения комплексного сопротивления связаны с информационными входами микроконтроллера. Микроконтроллер связан с пультом управления, дисплеем и цифровым ключом. Цифровий вихорострумовий дефектоскоп, що містить мікроконтролер, високочастотний генератор тактових сигналів, вихорострумовий перетворювач, мікросхему виміру комплексного опору, к сигнальному виходу якої підключено вхід вихорострумового перетворювача, через паралельно з'єднані цифровий ключ та фазообертач. Вихід вихорострумового перетворювача підключено до вимірювального входу мікросхеми виміру комплексного опору. Генератор тактових сигналів підключено до входу тактових сигналів мікроконтролера і мікросхеми виміру комплексного опору. Інформаційні виходи мікросхеми виміру комплексного опору зв'язані з інформаційними входами мікроконтролера. Мікроконтролер зв'язаний з пультом керування, дисплеєм та цифровим ключем.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext	fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language	eng ; rus
recordid	cdi_epo_espacenet_UA82342UU
source	esp@cenet
subjects	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
title	DIGITAL VORTEX-CURRENT DEFECTOSCOPE
url	https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-06T06%3A01%3A17IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=BAZHENOV%20VIKTOR%20HRYHOROVYCH&rft.date=2013-07-25&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EUA82342UU%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true