Apparatus for diagnostics of reliability of semiconductor super-powerful pulse avalanche-transit diodes (ATD)

Apparatus for diagnostics of reliability of semiconductor super-powerful pulse avalanche-transit diodes (ATD) includes reading device, second coaxial delay line, former of nano-second pulses to which first coaxial delay line is connected. To the first coaxial delay line tee element is connected to which through matched loads inputs of the first and the second coaxial measuring delay lines are connected, to outputs of those matching loads are connected and in parallel with those to inputs of the second and the third coaxial lines reading device is connected, at that to the tee element fourth coaxial line with switch device is connected, it includes the structure under investigation. Аппарат для диагностики надежности полупроводниковых сверхмощных импульсных лавинопролетных диодов (ЛПД) содержит считывающее устройство, сторую коаксиальную линию задержки, формирователь наносекундных импульсов, к которому присоединена первая коаксиальная линия задержки. К первой коаксиальной линии задержки подсоединен тройник, к которому подключены через согласовательные нагрузки входы второй и третьей коаксиальных измерительных линий задержки, к выходам которых присоединены согласователные нагрузки, а параллельно с ними к входам второй и третьей коаксиальных линий присоединено считывающее устройство, при этом к тройнику также подсоединена четвертая коаксиальная линия с коммутационным устройством, которое содержит исследуемую структуру. Апарат для діагностики надійності напівпровідникових надпотужних імпульсних лавинопрольотних діодів (ЛПД) містить зчитуючий пристрій, другу коаксіальну лінію затримки, формувач наносекундних імпульсів, до якого приєднана перша коаксіальна лінія затримки. До першої коаксіальної лінії затримки під'єднаний трійник, до якого підключені через узгоджувальні навантаження входи другої та третьої коаксіальних вимірювальних ліній затримки, до виходів яких приєднані узгоджувальні навантаження, а паралельно з ними до входів другої та третьої коаксіальних ліній приєднаний зчитуючий пристрій, при цьому до трійника також під'єднана четверта коаксіальна лінія з комутаційним пристроєм, що містить досліджувану структуру.