СПОСІБ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСІВ
The proposed method for monitoring technological process involves periodically measuring the process parameters, storing and displaying each parameter value, determining that the parameter value is within the specified tolerance, calculating the increment of the parameter value relative to the rated...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | ukr |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | Kotok Valerii Bronislavovych Khokhlov Oleh Vasyliovych Bekker Mykhailo Viktorovych Kovaliv Yevstakhii Osypovych Oliinykov Vadym Viktorovych Volchkov Ivan Ivanovych Bantiukov Yevhen Mykolaiovych Kuchmii Yevhen Antonovych |
description | The proposed method for monitoring technological process involves periodically measuring the process parameters, storing and displaying each parameter value, determining that the parameter value is within the specified tolerance, calculating the increment of the parameter value relative to the rated value, comparing the current calculated parameter value with a specified one, and determining limit increment of the parameter for each process stage.
Предлагаемый способ контроля технологического процесса заключается в том, что периодически измеряют параметры технологического процесса, запоминают и индицируют значение каждого параметра, контролируют нахождение значения каждого параметра в диапазоне между максимальным и минимальным допустимыми значениями, рассчитывают приращения значений параметров относительно номинальных значений, сравнивают рассчитанные приращения с заданными приращениями, а также определяют предельные приращения значений параметров для каждого этапа технологического процесса.
Спосіб контролю технологічних процесів включає циклічне вимірювання значень параметрів технологічного процесу, запам'ятовування й індикацію вимірюваного значення кожного параметра, контроль порушення значенням параметра його граничних уставок шляхом порівняння вимірюваного значення кожного параметра з його граничними уставками, визначення величини приросту вимірюваного значення параметра відповідного базового значення параметра, порівняння величини цього приросту з заданою величиною приросту, крім того визначають граничні значенння приросту кожного контрольованого параметра при його перебуванні в кожнім із установлених станів технологічного процесу. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_UA46675A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>UA46675A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_UA46675A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPC8sPDC_AvzgGTbhYkKF2YBmXMvLLqwAEjPvrBOAcicemEpUAjEnXdhMlDVciBvxoWlCkBtIFXLgApAmifxMLCmJeYUp_JCaW4GWTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JL4UEcTMzNzU0djQvIAqxNJyQ</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>СПОСІБ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСІВ</title><source>esp@cenet</source><creator>Kotok Valerii Bronislavovych ; Khokhlov Oleh Vasyliovych ; Bekker Mykhailo Viktorovych ; Kovaliv Yevstakhii Osypovych ; Oliinykov Vadym Viktorovych ; Volchkov Ivan Ivanovych ; Bantiukov Yevhen Mykolaiovych ; Kuchmii Yevhen Antonovych</creator><creatorcontrib>Kotok Valerii Bronislavovych ; Khokhlov Oleh Vasyliovych ; Bekker Mykhailo Viktorovych ; Kovaliv Yevstakhii Osypovych ; Oliinykov Vadym Viktorovych ; Volchkov Ivan Ivanovych ; Bantiukov Yevhen Mykolaiovych ; Kuchmii Yevhen Antonovych</creatorcontrib><description>The proposed method for monitoring technological process involves periodically measuring the process parameters, storing and displaying each parameter value, determining that the parameter value is within the specified tolerance, calculating the increment of the parameter value relative to the rated value, comparing the current calculated parameter value with a specified one, and determining limit increment of the parameter for each process stage.
Предлагаемый способ контроля технологического процесса заключается в том, что периодически измеряют параметры технологического процесса, запоминают и индицируют значение каждого параметра, контролируют нахождение значения каждого параметра в диапазоне между максимальным и минимальным допустимыми значениями, рассчитывают приращения значений параметров относительно номинальных значений, сравнивают рассчитанные приращения с заданными приращениями, а также определяют предельные приращения значений параметров для каждого этапа технологического процесса.
Спосіб контролю технологічних процесів включає циклічне вимірювання значень параметрів технологічного процесу, запам'ятовування й індикацію вимірюваного значення кожного параметра, контроль порушення значенням параметра його граничних уставок шляхом порівняння вимірюваного значення кожного параметра з його граничними уставками, визначення величини приросту вимірюваного значення параметра відповідного базового значення параметра, порівняння величини цього приросту з заданою величиною приросту, крім того визначають граничні значенння приросту кожного контрольованого параметра при його перебуванні в кожнім із установлених станів технологічного процесу.</description><language>ukr</language><creationdate>2002</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20020515&DB=EPODOC&CC=UA&NR=46675A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20020515&DB=EPODOC&CC=UA&NR=46675A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Kotok Valerii Bronislavovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Khokhlov Oleh Vasyliovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Bekker Mykhailo Viktorovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Kovaliv Yevstakhii Osypovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Oliinykov Vadym Viktorovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Volchkov Ivan Ivanovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Bantiukov Yevhen Mykolaiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Kuchmii Yevhen Antonovych</creatorcontrib><title>СПОСІБ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСІВ</title><description>The proposed method for monitoring technological process involves periodically measuring the process parameters, storing and displaying each parameter value, determining that the parameter value is within the specified tolerance, calculating the increment of the parameter value relative to the rated value, comparing the current calculated parameter value with a specified one, and determining limit increment of the parameter for each process stage.
Предлагаемый способ контроля технологического процесса заключается в том, что периодически измеряют параметры технологического процесса, запоминают и индицируют значение каждого параметра, контролируют нахождение значения каждого параметра в диапазоне между максимальным и минимальным допустимыми значениями, рассчитывают приращения значений параметров относительно номинальных значений, сравнивают рассчитанные приращения с заданными приращениями, а также определяют предельные приращения значений параметров для каждого этапа технологического процесса.
Спосіб контролю технологічних процесів включає циклічне вимірювання значень параметрів технологічного процесу, запам'ятовування й індикацію вимірюваного значення кожного параметра, контроль порушення значенням параметра його граничних уставок шляхом порівняння вимірюваного значення кожного параметра з його граничними уставками, визначення величини приросту вимірюваного значення параметра відповідного базового значення параметра, порівняння величини цього приросту з заданою величиною приросту, крім того визначають граничні значенння приросту кожного контрольованого параметра при його перебуванні в кожнім із установлених станів технологічного процесу.</description><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2002</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPC8sPDC_AvzgGTbhYkKF2YBmXMvLLqwAEjPvrBOAcicemEpUAjEnXdhMlDVciBvxoWlCkBtIFXLgApAmifxMLCmJeYUp_JCaW4GWTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JL4UEcTMzNzU0djQvIAqxNJyQ</recordid><startdate>20020515</startdate><enddate>20020515</enddate><creator>Kotok Valerii Bronislavovych</creator><creator>Khokhlov Oleh Vasyliovych</creator><creator>Bekker Mykhailo Viktorovych</creator><creator>Kovaliv Yevstakhii Osypovych</creator><creator>Oliinykov Vadym Viktorovych</creator><creator>Volchkov Ivan Ivanovych</creator><creator>Bantiukov Yevhen Mykolaiovych</creator><creator>Kuchmii Yevhen Antonovych</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20020515</creationdate><title>СПОСІБ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСІВ</title><author>Kotok Valerii Bronislavovych ; Khokhlov Oleh Vasyliovych ; Bekker Mykhailo Viktorovych ; Kovaliv Yevstakhii Osypovych ; Oliinykov Vadym Viktorovych ; Volchkov Ivan Ivanovych ; Bantiukov Yevhen Mykolaiovych ; Kuchmii Yevhen Antonovych</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_UA46675A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ukr</language><creationdate>2002</creationdate><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Kotok Valerii Bronislavovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Khokhlov Oleh Vasyliovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Bekker Mykhailo Viktorovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Kovaliv Yevstakhii Osypovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Oliinykov Vadym Viktorovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Volchkov Ivan Ivanovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Bantiukov Yevhen Mykolaiovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Kuchmii Yevhen Antonovych</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Kotok Valerii Bronislavovych</au><au>Khokhlov Oleh Vasyliovych</au><au>Bekker Mykhailo Viktorovych</au><au>Kovaliv Yevstakhii Osypovych</au><au>Oliinykov Vadym Viktorovych</au><au>Volchkov Ivan Ivanovych</au><au>Bantiukov Yevhen Mykolaiovych</au><au>Kuchmii Yevhen Antonovych</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>СПОСІБ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСІВ</title><date>2002-05-15</date><risdate>2002</risdate><abstract>The proposed method for monitoring technological process involves periodically measuring the process parameters, storing and displaying each parameter value, determining that the parameter value is within the specified tolerance, calculating the increment of the parameter value relative to the rated value, comparing the current calculated parameter value with a specified one, and determining limit increment of the parameter for each process stage.
Предлагаемый способ контроля технологического процесса заключается в том, что периодически измеряют параметры технологического процесса, запоминают и индицируют значение каждого параметра, контролируют нахождение значения каждого параметра в диапазоне между максимальным и минимальным допустимыми значениями, рассчитывают приращения значений параметров относительно номинальных значений, сравнивают рассчитанные приращения с заданными приращениями, а также определяют предельные приращения значений параметров для каждого этапа технологического процесса.
Спосіб контролю технологічних процесів включає циклічне вимірювання значень параметрів технологічного процесу, запам'ятовування й індикацію вимірюваного значення кожного параметра, контроль порушення значенням параметра його граничних уставок шляхом порівняння вимірюваного значення кожного параметра з його граничними уставками, визначення величини приросту вимірюваного значення параметра відповідного базового значення параметра, порівняння величини цього приросту з заданою величиною приросту, крім того визначають граничні значенння приросту кожного контрольованого параметра при його перебуванні в кожнім із установлених станів технологічного процесу.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | ukr |
recordid | cdi_epo_espacenet_UA46675A |
source | esp@cenet |
title | СПОСІБ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПРОЦЕСІВ |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-11T07%3A19%3A34IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Kotok%20Valerii%20Bronislavovych&rft.date=2002-05-15&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EUA46675A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |