X-RAY SPECTROMETER FOR INVESTIGATING MONOCRYSTAL STRUCTURAL PERFECTION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MIRENSKIJ ANATOLIJ V,SU, IMAMOV RAFIK M,SU, SHILIN YURIJ N,SU, YAKIMOV SERGEJ S,SU, KOVALCHUK MIKHAIL V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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