DEVICE FOR MEASURING RESISTOR NON-LINEARITY

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KURILCHIK VLADIMIR N,SU, SAMSONOV VIKTOR A,SU, ANDREEV YURIJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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