DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING OF LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUITS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BEREZOV EVGENIJ P,SU, CHUCHMAN VLADIMIR G,SU, SERGEEV BORIS G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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