SCANNING DEVICE TO FLAW DETECTOR

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LISITSYN VADIM S,SU, LAVROV SERGEJ YA,SU, PANOVA VALENTINA P,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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