METER OF TRANSMITTANCE OF OPTICAL PATHS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	IVANOV VLADIMIR P,SU, FILIPPOV VADIM L,SU, MAKAROV ALEKSEJ S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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