DEVICE FOR ANALYSIS OF THIN-LAYER RADIOCHROMATOGRAMS AND RADIOELECTROPHOREGRAMS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PESHCHEKHONOV VLADIMIR D,SU, ZANEVSKIJ YURIJ V,SU, KAMINIR LEV B,SU, SENCHENKOV EVGENIJ P,SU, CHERNENKO SERGEJ P,SU, KALININ VADIM N,SU, IVANOV ANDREJ B,SU, TYAPKIN IGOR A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!