DEVICE FOR MONITORING THICKNESS OF ELECTROPLATED COATING

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MARKIN VIKTOR A,SU, URBANOVICH YUZEF YU,SU, VICHKOVSKIJ YURIJ ,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	APPARATUS THEREFOR CHEMISTRY ELECTROFORMING ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES METALLURGY PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!