LASER ARRANGEMENT FOR MEASURING IRRIGULARITIES OF SURFACES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KLYUSHIN EVGENIJ B,SU, TARASOV VIKTOR V,SU, BUBLIK VASILIJ E,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!