SYSTEM FOR AUTOMATIC MONITORING OF MEAN THICKNESS OF ELECTROPLATED COATING IN APPLICATION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PYALANIS VINTSENTAS-ROMUALDAS P,SU, MACHYULAJTIS CHESLOVAS V,SU, MACHYULIS ADOMAS N,SU, FISHELSON NIKOLAJ S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	APPARATUS THEREFOR CHEMISTRY ELECTROFORMING ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES METALLURGY PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!