METHOD OF MEASURING WHITENESS OF ENAMEL COAT

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KOSTYLEV SERGEJ N,SU, ZADOROZHNAYA VALENTINA N,SU, SHCHIPAKINA LYUDMILA I,SU, KHACHPANYAN KARLEN KH,SU, SEMERIKOV VLADIMIR I,SU, SLAVOV VLADIMIR I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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