METHOD OF RELIABILITY TESTING OF SOLID-STATE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MALKOV YAKOV V,SU, MOLODYK ALEKSANDR M,SU, PETROV SERGEJ P,SU, KOSMACHEV MIKHAIL I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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