FLAW DETECTOR FOR SCANNING ELECTROMAGNETIC INSPECTION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SHAPIRO SERGEJ L,SU, MASLOV YURIJ N,SU, MIKHAJKOV VIKTOR I,SU, TEMNIKOV FEDOR E,SU, ZOTOV VLADIMIR V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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