DEVICE FOR MEASURING MAGNETOSTRICTION OF SPECIMENS WITH MICROMETRE THICKNESS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	VENKOV VALERIJ A,SU, ESIKOV VIKTOR B,SU, YASTREBOV IGOR G,SU, SOSNIN VLADIMIR V,SU, PETROVYKH SERGEJ V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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