APPARATUS FOR INVESTIGATING STRUCTURAL PERFECTION OF THIN SUBSURFACE LAYERS OF MONOCRYSTALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	IMAMOV RAFIK M,SU, SHILIN YURIJ N,SU, CHELENKOV ANATOLIJ V,SU, LE KONG K,SU, AFANASEV ALEKSANDR M,SU, MUKHAMEDZHANOV ENVER KH,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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