MIS STRUCTURE ELECTROCRYSTAL PARAMETER METER

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	CHAJKOVSKIJ VIKTOR M,SU, SVETLOV ANATOLIJ V,SU, GAEVSKIJ YURIJ S,SU, TSYPIN BORIS V,SU, MARTYASHIN ALEKSANDR I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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