METHOD OF MEASURING POWER SEMICONDUCTOR DEVICE SHOCK CURRENT VALUE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SMIRNOV VLADIMIR S,SU, GAMAYUNOV ALEKSANDR V,SU, PASHENTSEV IGOR D,SU, ANISIMOV GENNADIJ N,SU, PALENIK VLADISLAV I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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