VOID FREE LOW STRESS FILL

Provided herein are methods of depositing low stress and void free metal films in deep features and related apparatus. Embodiments of the methods include treating the sidewalls of the holes to inhibit metal deposition while leaving the feature bottom untreated. In subsequent deposition operations, m...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: CHANDRASHEKAR, Anand, YANG, Tsung-Han
Format: Patent
Sprache:eng
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