DEVICE FOR MEASURING PARAMETERS OF CRYSTALLIZATION KINETICS

FIELD: measurement technology.SUBSTANCE: invention relates to investigation of phase changes of substance and is intended for measurement of growth rate of crystals and rate of formation of crystallization centers during crystallization of melt or during formation of crystals from solution. Disclose...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kalinin Sergej Aleksandrovich, Lyashenko Evgenij Yurevich, Solovev Yurij Aleksandrovich, Taran Yuliya Aleksandrovna, Solovev Aleksandr Alekseevich
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: measurement technology.SUBSTANCE: invention relates to investigation of phase changes of substance and is intended for measurement of growth rate of crystals and rate of formation of crystallization centers during crystallization of melt or during formation of crystals from solution. Disclosed is a device for measuring parameters of crystallization kinetics, which includes two chambers - a measuring chamber, placed in a casing, made with a detachable cover, on which there is a viewing window for a microscope, and an illumination chamber, separated by a plate with a layer of heat insulation with a cylindrical hole in the center and with a slot for placing glass with a housing on the plate in the form of a thin-walled cylinder, on which there is a measuring cell and mounted a coiling coil of cooling and under it a clamp electric heater. Plate has mounting holes for the cylinder body and the illumination chamber, on the walls of which there are two fans - suction and blowing air - and a plate for fixing the LEDs.EFFECT: high accuracy of controlling heating and overcooling over shorter time intervals.1 cl, 6 dwg Изобретение относится к исследованию фазовых изменений вещества и предназначено для измерения скорости роста кристаллов и скорости образования центров кристаллизации в процессе кристаллизации расплава или в процессе образования кристаллов из раствора. Заявлено устройство для измерения параметров кинетики кристаллизации, которое включает две камеры - измерительную камеру, помещенную в кожух, выполненный со съемной крышкой, на которой смонтировано смотровое окно для микроскопа, и камеру подсветки, разделенные пластиной со слоем теплоизоляции с цилиндрическим отверстием по центру и с пазом для размещения стекла с размещенным на пластине корпусом в виде тонкостенного цилиндра, на котором помещена измерительная ячейка и смонтированы обвивающий змеевик охлаждения и под ним хомутовый электронагреватель. Причем пластина выполнена с посадочными отверстиями для корпуса цилиндра и камеры подсветки, на стенках которой противоположно расположены два вентилятора - засасывающий и выдувающий воздух - и пластинка для фиксации светодиодов. Технический результат - обеспечение повышения точности регулирования нагрева и переохлаждения за меньшие промежутки времени. 6 ил.