METHOD FOR X-RAY SPECTRAL DETERMINATION OF NANOPARTICLE SIZE IN SAMPLE

FIELD: physics.SUBSTANCE: method includes successive irradiation in transmission mode and in reflection mode of the analysed area of a sample with monochromatic X-ray beams with energy which corresponds to the minimum and maximum absorption thereof near the K absorption edges of X-ray radiation by atoms of elements which are part of the analysed area of the sample, recording low-angle scattering curves of X-rays in transmission mode at first and second mutually perpendicular positions of the sample and in reflection mode from the analysed area of the sample while rotating the sample in the detection plane and with a fixed monochromator crystal and determining the size of nanoparticles from the shape of low-angle scattering curves of X-rays.EFFECT: enabling detection of nanosize formations within a material, including irregularly and randomly distributed nanoparticles in a sample.11 dwg Использование: для рентгеноспектрального определения размеров наночастиц в образце. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют последовательное облучение в режиме прохождения и в режиме отражения исследуемой области образца пучками монохроматизированных рентгеновских лучей с энергией, соответствующей их минимальному и максимальному поглощению вблизи К-краев поглощения рентгеновского излучения атомами элементов, входящих в состав исследуемой области образца, регистрацию кривых малоуглового рассеяния рентгеновских лучей в режиме прохождения при первом и втором взаимно перпендикулярных положениях образца и в режиме отражения от исследуемой области образца при вращении образца в плоскости регистрации и при неподвижном кристалле-монохроматоре и определение размеров наночастиц по форме кривых малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Технический результат: обеспечение возможности определения наноразмерных образований в толще материала, в том числе нерегулярных и/или хаотически распределенных наночастиц в образце. 11 ил.