METHOD OF RECORDING FRACTURES IN FRAGILE STRAIN INDICATORS

FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: sound emission measurements of signals indicating fracture formation in fragile strained coat with additional measurement of aerosol concentration in near-surface layer of fragile stained coat are carried out. Concentration of micro particles depending on oxide film...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: NOVOSELOV VLADIMIR VASIL'EVICH, IVANOV VALERIJ IVANOVICH, ALEKSANDROV PETR ANATOL'EVICH, PERMJAKOV VLADIMIR NIKOLAEVICH, MAKHUTOV NIKOLAJ ANDREEVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: sound emission measurements of signals indicating fracture formation in fragile strained coat with additional measurement of aerosol concentration in near-surface layer of fragile stained coat are carried out. Concentration of micro particles depending on oxide film depth is defined by the formula: ?=K·lg(?/?), where ?is oxide film minimum depth arbitrary taken to make 10 mcm; Kis the factor defined by strain indicator film depth and determined by experiments.EFFECT: possibility to record structural material reconfiguration long before destruction.2 cl, 5 dwg Использование: для контроля процесса трещинообразования хрупких тензоиндикаторов при изменении уровня нагруженности в исследуемых зонах конструкции. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют акустико-эмиссионные измерения сигналов образования трещин в хрупком тензопокрытии с дополнительным измерением концентрации аэрозолей в приповерхностном слое хрупкого тензопокрытия. Концентрацию микрочастиц от толщины оксидной пленки определяют по формуле:, где δ- минимальная толщина оксидной пленки, условно принятая равной 10 мкм; K- коэффициент, зависящий от толщины оксидной пленки тензоиндикатора и определяемый экспериментально. Технический результат: обеспечение возможности регистрации процесса структурной перестройки материала задолго до начала разрушения конструкции. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.