METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS
FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the ref...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ROMASH ELENA VIKTOROVNA |
description | FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg
Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_RU2491505C1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>RU2491505C1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_RU2491505C13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZFD3dQ3x8HdR8HdTcHENcQ3y9fTz9HNXCA4NcnN0dlUI8g919_BzDQ7mYWBNS8wpTuWF0twMCm6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxQaFGJpaGpgamzobGRCgBAKppI6U</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><source>esp@cenet</source><creator>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH ; IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ; ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creator><creatorcontrib>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH ; IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ; ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creatorcontrib><description>FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg
Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><language>eng ; rus</language><subject>MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2013</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130827&DB=EPODOC&CC=RU&NR=2491505C1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130827&DB=EPODOC&CC=RU&NR=2491505C1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creatorcontrib><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><description>FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg
Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2013</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFD3dQ3x8HdR8HdTcHENcQ3y9fTz9HNXCA4NcnN0dlUI8g919_BzDQ7mYWBNS8wpTuWF0twMCm6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxQaFGJpaGpgamzobGRCgBAKppI6U</recordid><startdate>20130827</startdate><enddate>20130827</enddate><creator>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</creator><creator>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</creator><creator>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20130827</creationdate><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><author>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH ; IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ; ROMASH ELENA VIKTOROVNA</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_RU2491505C13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus</language><creationdate>2013</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</au><au>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</au><au>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><date>2013-08-27</date><risdate>2013</risdate><abstract>FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg
Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; rus |
recordid | cdi_epo_espacenet_RU2491505C1 |
source | esp@cenet |
subjects | MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING |
title | METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-16T00%3A06%3A43IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=INDUKAEV%20KONSTANTIN%20VASIL'EVICH&rft.date=2013-08-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ERU2491505C1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |