METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS

FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the ref...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH, IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH, ROMASH ELENA VIKTOROVNA
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH
IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH
ROMASH ELENA VIKTOROVNA
description FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_RU2491505C1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>RU2491505C1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_RU2491505C13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZFD3dQ3x8HdR8HdTcHENcQ3y9fTz9HNXCA4NcnN0dlUI8g919_BzDQ7mYWBNS8wpTuWF0twMCm6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxQaFGJpaGpgamzobGRCgBAKppI6U</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><source>esp@cenet</source><creator>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH ; IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ; ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creator><creatorcontrib>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH ; IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ; ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creatorcontrib><description>FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><language>eng ; rus</language><subject>MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2013</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20130827&amp;DB=EPODOC&amp;CC=RU&amp;NR=2491505C1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20130827&amp;DB=EPODOC&amp;CC=RU&amp;NR=2491505C1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creatorcontrib><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><description>FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2013</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFD3dQ3x8HdR8HdTcHENcQ3y9fTz9HNXCA4NcnN0dlUI8g919_BzDQ7mYWBNS8wpTuWF0twMCm6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxQaFGJpaGpgamzobGRCgBAKppI6U</recordid><startdate>20130827</startdate><enddate>20130827</enddate><creator>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</creator><creator>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</creator><creator>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20130827</creationdate><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><author>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH ; IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH ; ROMASH ELENA VIKTOROVNA</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_RU2491505C13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus</language><creationdate>2013</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>INDUKAEV KONSTANTIN VASIL'EVICH</au><au>IGNAT'EV PAVEL SERGEEVICH</au><au>ROMASH ELENA VIKTOROVNA</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS</title><date>2013-08-27</date><risdate>2013</risdate><abstract>FIELD: physics.SUBSTANCE: method is realised using an interference technique. Several areas on the analysed surface are selected, the phase image of each of which can be obtained on a microscope photodetector. The phase image of each area is determined, for which at different phase values of the reference beam at least three energy values detected by each photodetector pixel over the exposure time are determined, wherein the phase of the reference beam is shifted by changing the position of the phase modulator. To determine each pixel-detected energy value, a curve of pixel brightness versus time is plotted while varying the position of the phase modulator and the obtained curve is integrated on the interval of the exposure time. The phase image of each area is interpreted and roughness of each area is determined with subsequent averaging of roughness over all areas and surface roughness is obtained. The phase modulator used can be a mirror which can move along the optical path of the reference beam.EFFECT: high accuracy of determining surface roughness.2 cl, 1 dwg Способ может быть использован для прецизионного контроля изделий в машиностроении и приборостроении. Способ реализуется интерференционным методом. На исследуемой поверхности выбирают несколько участков, фазовое изображение каждого из которых может быть получено на фотоприемнике микроскопа. Определяют фазовое изображение каждого участка, для чего при различных значениях фазы опорного пучка определяют не менее трех значений энергии, воспринятой каждым пикселем фотоприемника за время экспозиции, причем сдвиг фазы опорного пучка осуществляют путем изменения положения фазового модулятора. Для определения каждого значения воспринятой пикселем энергии получают зависимость освещенности пикселя от времени при изменении положения фазового модулятора и интегрируют полученную зависимость на интервале времени экспозиции. Интерпретируют фазовое изображение каждого участка и определяют шероховатость каждого участка с последующим усреднением шероховатости по всем участкам и получают шероховатость поверхности. В качестве фазового модулятора может быть использовано зеркало, выполненное с возможностью перемещения вдоль линии оптического пути опорного пучка. Технический результат - повышение точности определения шероховатости поверхности. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; rus
recordid cdi_epo_espacenet_RU2491505C1
source esp@cenet
subjects MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
title METHOD OF DETERMINING SURFACE ROUGHNESS
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-16T00%3A06%3A43IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=INDUKAEV%20KONSTANTIN%20VASIL'EVICH&rft.date=2013-08-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ERU2491505C1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true