Device for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics and method for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics

Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów charakteryzuje się tym, że zawiera co najmniej jedno źródło światła, połączone szeregowo z co najmniej jednym sprzęgaczem światłowodowym, którego jedno ramię stanowi część ramienia referencyjnego urządzenia, a drugie stano...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ZIOŁOWICZ ANNA, LIPIŃSKI STANISŁAW, STAŃCZAK TOMASZ, JÓŹWIK MICHALINA, NAPIERAŁA MAREK, NASIŁOWSKI TOMASZ, MURAWSKI MICHAŁ, SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ, HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW, STĘPIEŃ KAROL
Format: Patent
Sprache:eng ; pol
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator ZIOŁOWICZ ANNA
LIPIŃSKI STANISŁAW
STAŃCZAK TOMASZ
JÓŹWIK MICHALINA
NAPIERAŁA MAREK
NASIŁOWSKI TOMASZ
MURAWSKI MICHAŁ
SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ
HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW
STĘPIEŃ KAROL
description Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów charakteryzuje się tym, że zawiera co najmniej jedno źródło światła, połączone szeregowo z co najmniej jednym sprzęgaczem światłowodowym, którego jedno ramię stanowi część ramienia referencyjnego urządzenia, a drugie stanowi część ramienia pomiarowego urządzenia, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia zamontowany jest co najmniej jeden stolik liniowy przesuwny, a co najmniej jedno z ramion urządzenia przyłączone jest bezpośrednio albo poprzez dodatkowy sprzęgacz do co najmniej jednego detektora, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia, co najmniej przed mierzonym elementem fazowym umieszczony jest co najmniej jeden kolimator. Sposób pomiaru parametrów elementu fazowego i dyspersji światłowodów z wykorzystaniem powyższego urządzenia charakteryzuje się tym, że prowadzony co najmniej dwuetapowo, w jakim pierwszy etap obejmuje kalibrację urządzenia według wynalazku, a drugi jest pomiarem właściwym w którym podczas kalibracji urządzenia według wynalazku światło pochodzące z niskokoherentnego źródła światła (1.1), jest kierowane do sprzęgacza światłowodowego (2.1), gdzie zostaje rozdzielone na dwa ramiona: pomiarowe i referencyjne, a następnie przesuwa się stolik liniowy (6) zapisując informację o różnicy dróg optycznych, aż do uzyskania zerowej różnicy dróg optycznych pomiędzy ramionami sprzęgacza. Interferencja powstaje na sprzęgaczu (2.2) po przejściu przez kolimatory (3.2 i 4.2), a interferogram zbiera się w opóźnieniu czasowym, co przekłada się na przesuw stolika. Interferogram zbiera się przez detektor natężeniowy, w szczególności poprzez diodę półprzewodnikową, a po kalibracji urządzenia wykonuje się pomiar właściwy, w którym w ramię pomiarowe urządzenia według wynalazku, pomiędzy kolimatory (3.1 i 3.2) wkładana jest soczewka przeznaczona do pomiaru, następnie przesuwając stolik optyczny ustawia się takie jego położenie, jakie daje zerową różnicę dróg optycznych, na podstawie różnicy położeń równoważonej drogi optycznej w pomiarze kalibrującym i w pomiarze właściwym z elementem fazowym oraz znajomości współczynnika załamania szkła, z którego została wykonana soczewka, zostaje wyznaczona grubość elementu fazowego. A device for measuring the parameters of phase elements and dispersion of optical fibers, characterized in that it contains: a light source, serially connected to fiber optic coupler, one of whose arms constitutes a part of the reference arm, and whose second arm
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_PL414064A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>PL414064A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_PL414064A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqtjDsOwjAQBdNQIOAM7AUiEWHRowCioKCgjxb7mViKP_IabsQ9CYKehuoVM_Om1XOHh9MgGzN5sNyzCzdKnNmjIAtFS6lnAWGARyhCHAwZJ2mkLoa3YN0VuY6pOP3BY9tH87_TeTWxPAgW351Vy8P-0h5rpNhBEmsElO58Uo1abdS2Wf82XvM8Vro</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Device for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics and method for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics</title><source>esp@cenet</source><creator>ZIOŁOWICZ ANNA ; LIPIŃSKI STANISŁAW ; STAŃCZAK TOMASZ ; JÓŹWIK MICHALINA ; NAPIERAŁA MAREK ; NASIŁOWSKI TOMASZ ; MURAWSKI MICHAŁ ; SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ ; HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW ; STĘPIEŃ KAROL</creator><creatorcontrib>ZIOŁOWICZ ANNA ; LIPIŃSKI STANISŁAW ; STAŃCZAK TOMASZ ; JÓŹWIK MICHALINA ; NAPIERAŁA MAREK ; NASIŁOWSKI TOMASZ ; MURAWSKI MICHAŁ ; SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ ; HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW ; STĘPIEŃ KAROL</creatorcontrib><description>Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów charakteryzuje się tym, że zawiera co najmniej jedno źródło światła, połączone szeregowo z co najmniej jednym sprzęgaczem światłowodowym, którego jedno ramię stanowi część ramienia referencyjnego urządzenia, a drugie stanowi część ramienia pomiarowego urządzenia, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia zamontowany jest co najmniej jeden stolik liniowy przesuwny, a co najmniej jedno z ramion urządzenia przyłączone jest bezpośrednio albo poprzez dodatkowy sprzęgacz do co najmniej jednego detektora, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia, co najmniej przed mierzonym elementem fazowym umieszczony jest co najmniej jeden kolimator. Sposób pomiaru parametrów elementu fazowego i dyspersji światłowodów z wykorzystaniem powyższego urządzenia charakteryzuje się tym, że prowadzony co najmniej dwuetapowo, w jakim pierwszy etap obejmuje kalibrację urządzenia według wynalazku, a drugi jest pomiarem właściwym w którym podczas kalibracji urządzenia według wynalazku światło pochodzące z niskokoherentnego źródła światła (1.1), jest kierowane do sprzęgacza światłowodowego (2.1), gdzie zostaje rozdzielone na dwa ramiona: pomiarowe i referencyjne, a następnie przesuwa się stolik liniowy (6) zapisując informację o różnicy dróg optycznych, aż do uzyskania zerowej różnicy dróg optycznych pomiędzy ramionami sprzęgacza. Interferencja powstaje na sprzęgaczu (2.2) po przejściu przez kolimatory (3.2 i 4.2), a interferogram zbiera się w opóźnieniu czasowym, co przekłada się na przesuw stolika. Interferogram zbiera się przez detektor natężeniowy, w szczególności poprzez diodę półprzewodnikową, a po kalibracji urządzenia wykonuje się pomiar właściwy, w którym w ramię pomiarowe urządzenia według wynalazku, pomiędzy kolimatory (3.1 i 3.2) wkładana jest soczewka przeznaczona do pomiaru, następnie przesuwając stolik optyczny ustawia się takie jego położenie, jakie daje zerową różnicę dróg optycznych, na podstawie różnicy położeń równoważonej drogi optycznej w pomiarze kalibrującym i w pomiarze właściwym z elementem fazowym oraz znajomości współczynnika załamania szkła, z którego została wykonana soczewka, zostaje wyznaczona grubość elementu fazowego. A device for measuring the parameters of phase elements and dispersion of optical fibers, characterized in that it contains: a light source, serially connected to fiber optic coupler, one of whose arms constitutes a part of the reference arm, and whose second arm constitutes a part of the measurement arm of the device, and a motorized linear stage is mounted on the arm of the device. One of the arms of the device is connected to at least one detector, and at least one collimator is placed in at least of the arms of the device, at least before the phase element. A method of measuring the parameters of the phase element and the dispersion of optical fibers is conducted in two stages, wherein the first stage assumes the calibration of the device and the second stage is the proper measurement.</description><language>eng ; pol</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2017</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170327&amp;DB=EPODOC&amp;CC=PL&amp;NR=414064A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170327&amp;DB=EPODOC&amp;CC=PL&amp;NR=414064A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ZIOŁOWICZ ANNA</creatorcontrib><creatorcontrib>LIPIŃSKI STANISŁAW</creatorcontrib><creatorcontrib>STAŃCZAK TOMASZ</creatorcontrib><creatorcontrib>JÓŹWIK MICHALINA</creatorcontrib><creatorcontrib>NAPIERAŁA MAREK</creatorcontrib><creatorcontrib>NASIŁOWSKI TOMASZ</creatorcontrib><creatorcontrib>MURAWSKI MICHAŁ</creatorcontrib><creatorcontrib>SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ</creatorcontrib><creatorcontrib>HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW</creatorcontrib><creatorcontrib>STĘPIEŃ KAROL</creatorcontrib><title>Device for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics and method for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics</title><description>Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów charakteryzuje się tym, że zawiera co najmniej jedno źródło światła, połączone szeregowo z co najmniej jednym sprzęgaczem światłowodowym, którego jedno ramię stanowi część ramienia referencyjnego urządzenia, a drugie stanowi część ramienia pomiarowego urządzenia, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia zamontowany jest co najmniej jeden stolik liniowy przesuwny, a co najmniej jedno z ramion urządzenia przyłączone jest bezpośrednio albo poprzez dodatkowy sprzęgacz do co najmniej jednego detektora, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia, co najmniej przed mierzonym elementem fazowym umieszczony jest co najmniej jeden kolimator. Sposób pomiaru parametrów elementu fazowego i dyspersji światłowodów z wykorzystaniem powyższego urządzenia charakteryzuje się tym, że prowadzony co najmniej dwuetapowo, w jakim pierwszy etap obejmuje kalibrację urządzenia według wynalazku, a drugi jest pomiarem właściwym w którym podczas kalibracji urządzenia według wynalazku światło pochodzące z niskokoherentnego źródła światła (1.1), jest kierowane do sprzęgacza światłowodowego (2.1), gdzie zostaje rozdzielone na dwa ramiona: pomiarowe i referencyjne, a następnie przesuwa się stolik liniowy (6) zapisując informację o różnicy dróg optycznych, aż do uzyskania zerowej różnicy dróg optycznych pomiędzy ramionami sprzęgacza. Interferencja powstaje na sprzęgaczu (2.2) po przejściu przez kolimatory (3.2 i 4.2), a interferogram zbiera się w opóźnieniu czasowym, co przekłada się na przesuw stolika. Interferogram zbiera się przez detektor natężeniowy, w szczególności poprzez diodę półprzewodnikową, a po kalibracji urządzenia wykonuje się pomiar właściwy, w którym w ramię pomiarowe urządzenia według wynalazku, pomiędzy kolimatory (3.1 i 3.2) wkładana jest soczewka przeznaczona do pomiaru, następnie przesuwając stolik optyczny ustawia się takie jego położenie, jakie daje zerową różnicę dróg optycznych, na podstawie różnicy położeń równoważonej drogi optycznej w pomiarze kalibrującym i w pomiarze właściwym z elementem fazowym oraz znajomości współczynnika załamania szkła, z którego została wykonana soczewka, zostaje wyznaczona grubość elementu fazowego. A device for measuring the parameters of phase elements and dispersion of optical fibers, characterized in that it contains: a light source, serially connected to fiber optic coupler, one of whose arms constitutes a part of the reference arm, and whose second arm constitutes a part of the measurement arm of the device, and a motorized linear stage is mounted on the arm of the device. One of the arms of the device is connected to at least one detector, and at least one collimator is placed in at least of the arms of the device, at least before the phase element. A method of measuring the parameters of the phase element and the dispersion of optical fibers is conducted in two stages, wherein the first stage assumes the calibration of the device and the second stage is the proper measurement.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2017</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqtjDsOwjAQBdNQIOAM7AUiEWHRowCioKCgjxb7mViKP_IabsQ9CYKehuoVM_Om1XOHh9MgGzN5sNyzCzdKnNmjIAtFS6lnAWGARyhCHAwZJ2mkLoa3YN0VuY6pOP3BY9tH87_TeTWxPAgW351Vy8P-0h5rpNhBEmsElO58Uo1abdS2Wf82XvM8Vro</recordid><startdate>20170327</startdate><enddate>20170327</enddate><creator>ZIOŁOWICZ ANNA</creator><creator>LIPIŃSKI STANISŁAW</creator><creator>STAŃCZAK TOMASZ</creator><creator>JÓŹWIK MICHALINA</creator><creator>NAPIERAŁA MAREK</creator><creator>NASIŁOWSKI TOMASZ</creator><creator>MURAWSKI MICHAŁ</creator><creator>SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ</creator><creator>HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW</creator><creator>STĘPIEŃ KAROL</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20170327</creationdate><title>Device for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics and method for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics</title><author>ZIOŁOWICZ ANNA ; LIPIŃSKI STANISŁAW ; STAŃCZAK TOMASZ ; JÓŹWIK MICHALINA ; NAPIERAŁA MAREK ; NASIŁOWSKI TOMASZ ; MURAWSKI MICHAŁ ; SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ ; HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW ; STĘPIEŃ KAROL</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_PL414064A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; pol</language><creationdate>2017</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ZIOŁOWICZ ANNA</creatorcontrib><creatorcontrib>LIPIŃSKI STANISŁAW</creatorcontrib><creatorcontrib>STAŃCZAK TOMASZ</creatorcontrib><creatorcontrib>JÓŹWIK MICHALINA</creatorcontrib><creatorcontrib>NAPIERAŁA MAREK</creatorcontrib><creatorcontrib>NASIŁOWSKI TOMASZ</creatorcontrib><creatorcontrib>MURAWSKI MICHAŁ</creatorcontrib><creatorcontrib>SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ</creatorcontrib><creatorcontrib>HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW</creatorcontrib><creatorcontrib>STĘPIEŃ KAROL</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ZIOŁOWICZ ANNA</au><au>LIPIŃSKI STANISŁAW</au><au>STAŃCZAK TOMASZ</au><au>JÓŹWIK MICHALINA</au><au>NAPIERAŁA MAREK</au><au>NASIŁOWSKI TOMASZ</au><au>MURAWSKI MICHAŁ</au><au>SZOSTKIEWICZ ŁUKASZ</au><au>HOŁDYŃSKI ZBIGNIEW</au><au>STĘPIEŃ KAROL</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Device for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics and method for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics</title><date>2017-03-27</date><risdate>2017</risdate><abstract>Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów charakteryzuje się tym, że zawiera co najmniej jedno źródło światła, połączone szeregowo z co najmniej jednym sprzęgaczem światłowodowym, którego jedno ramię stanowi część ramienia referencyjnego urządzenia, a drugie stanowi część ramienia pomiarowego urządzenia, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia zamontowany jest co najmniej jeden stolik liniowy przesuwny, a co najmniej jedno z ramion urządzenia przyłączone jest bezpośrednio albo poprzez dodatkowy sprzęgacz do co najmniej jednego detektora, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia, co najmniej przed mierzonym elementem fazowym umieszczony jest co najmniej jeden kolimator. Sposób pomiaru parametrów elementu fazowego i dyspersji światłowodów z wykorzystaniem powyższego urządzenia charakteryzuje się tym, że prowadzony co najmniej dwuetapowo, w jakim pierwszy etap obejmuje kalibrację urządzenia według wynalazku, a drugi jest pomiarem właściwym w którym podczas kalibracji urządzenia według wynalazku światło pochodzące z niskokoherentnego źródła światła (1.1), jest kierowane do sprzęgacza światłowodowego (2.1), gdzie zostaje rozdzielone na dwa ramiona: pomiarowe i referencyjne, a następnie przesuwa się stolik liniowy (6) zapisując informację o różnicy dróg optycznych, aż do uzyskania zerowej różnicy dróg optycznych pomiędzy ramionami sprzęgacza. Interferencja powstaje na sprzęgaczu (2.2) po przejściu przez kolimatory (3.2 i 4.2), a interferogram zbiera się w opóźnieniu czasowym, co przekłada się na przesuw stolika. Interferogram zbiera się przez detektor natężeniowy, w szczególności poprzez diodę półprzewodnikową, a po kalibracji urządzenia wykonuje się pomiar właściwy, w którym w ramię pomiarowe urządzenia według wynalazku, pomiędzy kolimatory (3.1 i 3.2) wkładana jest soczewka przeznaczona do pomiaru, następnie przesuwając stolik optyczny ustawia się takie jego położenie, jakie daje zerową różnicę dróg optycznych, na podstawie różnicy położeń równoważonej drogi optycznej w pomiarze kalibrującym i w pomiarze właściwym z elementem fazowym oraz znajomości współczynnika załamania szkła, z którego została wykonana soczewka, zostaje wyznaczona grubość elementu fazowego. A device for measuring the parameters of phase elements and dispersion of optical fibers, characterized in that it contains: a light source, serially connected to fiber optic coupler, one of whose arms constitutes a part of the reference arm, and whose second arm constitutes a part of the measurement arm of the device, and a motorized linear stage is mounted on the arm of the device. One of the arms of the device is connected to at least one detector, and at least one collimator is placed in at least of the arms of the device, at least before the phase element. A method of measuring the parameters of the phase element and the dispersion of optical fibers is conducted in two stages, wherein the first stage assumes the calibration of the device and the second stage is the proper measurement.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; pol
recordid cdi_epo_espacenet_PL414064A1
source esp@cenet
subjects INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
title Device for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics and method for measuring parameters of phase elements and dispersion of fiber-optics
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-05T11%3A32%3A50IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=ZIO%C5%81OWICZ%20ANNA&rft.date=2017-03-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EPL414064A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true