Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel

Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS, MICHAEL FREDERICK HAYLES
Format: Patent
Sprache:dut
Schlagworte:
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS
MICHAEL FREDERICK HAYLES
description
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_NL1021376CC1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>NL1021376CC1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_NL1021376CC13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNi7EKwjAYBrM4iPoOvw9QMBb0AYLiIE6CY4nt1zYxJjEJEXx6M4iTg9PBcTdljwvC7an0C5SdCzQiUS4qKD3AUpaWUNgBJmnEyvmkYjuCZH8trlN2-EZR3r0Bqd8LJYeYYOZs0ksTsfhwxpb73VkcKnjXIHrZwiI1pyNfrXm93QjB63-aN9BTRB0</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel</title><source>esp@cenet</source><creator>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS ; MICHAEL FREDERICK HAYLES</creator><creatorcontrib>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS ; MICHAEL FREDERICK HAYLES</creatorcontrib><edition>7</edition><language>dut</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRICITY ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2004</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20040303&amp;DB=EPODOC&amp;CC=NL&amp;NR=1021376C1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20040303&amp;DB=EPODOC&amp;CC=NL&amp;NR=1021376C1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS</creatorcontrib><creatorcontrib>MICHAEL FREDERICK HAYLES</creatorcontrib><title>Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel</title><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2004</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNi7EKwjAYBrM4iPoOvw9QMBb0AYLiIE6CY4nt1zYxJjEJEXx6M4iTg9PBcTdljwvC7an0C5SdCzQiUS4qKD3AUpaWUNgBJmnEyvmkYjuCZH8trlN2-EZR3r0Bqd8LJYeYYOZs0ksTsfhwxpb73VkcKnjXIHrZwiI1pyNfrXm93QjB63-aN9BTRB0</recordid><startdate>20040303</startdate><enddate>20040303</enddate><creator>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS</creator><creator>MICHAEL FREDERICK HAYLES</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20040303</creationdate><title>Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel</title><author>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS ; MICHAEL FREDERICK HAYLES</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_NL1021376CC13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>dut</language><creationdate>2004</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS</creatorcontrib><creatorcontrib>MICHAEL FREDERICK HAYLES</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>REMCO THEODORUS JOHANNES PETRUS GEURTS</au><au>MICHAEL FREDERICK HAYLES</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel</title><date>2004-03-03</date><risdate>2004</risdate><edition>7</edition><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language dut
recordid cdi_epo_espacenet_NL1021376CC1
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
title Werkwijze voor het verkrijgen van een deeltjes-optische afbeelding van een sample in een deeltjes-optisch toestel
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-30T00%3A02%3A19IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=REMCO%20THEODORUS%20JOHANNES%20PETRUS%20GEURTS&rft.date=2004-03-03&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ENL1021376CC1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true