USE OF HEXAGONAL SODIUM ERBIUM FLUORIDE FOR OPTICAL MEASURING OF TEMPERATURE
Izgudrojums attiecas uz vielām un paņēmieniem mērāmās vides temperatūras optiskai noteikšanai 100-300 K diapazonā, kā arī uz polikristālisko materiālu NaErF4. Tiek piedāvāts polikristāliska materiāla NaErF4 jauns pielietojums, kur mērāmās vides temperatūras noteikšanu veic, polikristāliskā materiāla...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; lav |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | ANTUZEVIČS, Andris KRIEĶE, Guna DOĶE, Guna SPRIŅĢIS, Māris ĶEMERE, Meldra ROGULIS, Uldis |
description | Izgudrojums attiecas uz vielām un paņēmieniem mērāmās vides temperatūras optiskai noteikšanai 100-300 K diapazonā, kā arī uz polikristālisko materiālu NaErF4. Tiek piedāvāts polikristāliska materiāla NaErF4 jauns pielietojums, kur mērāmās vides temperatūras noteikšanu veic, polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscenci ierosinot ar 383-488 nm lāzera vai diodes starojumu un iegūto materiāla fotoluminiscences joslu attiecības salīdzinot ar iepriekš noteiktām vērtībām. Tiek piedāvāts arī paņēmiens polikristāliska NaErF4 materiāla izmantošanai optiskai temperatūras noteikšanai 100-300 K diapazonā, kas ietver šādus secīgus soļus: (i) polikristāliska NaErF4 materiāla ievietošana mērāmā vidē; (ii) polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscences ierosināšana ar ierosmes avotu ar ultravioleto starojumu un zilo gaismu; (iii) mērāmās vides temperatūras noteikšana, salīdzinot polikristāliska NaErF4 fotoluminiscences joslu intensitātes attiecības (FIR) ar iepriekš noteiktām vērtībām, savstarpēji izdalot integrētas joslu intensitātes spektrālajos apgabalos: 500-610 nm zaļajā joslā (z) un 620-720 nm sarkanajā joslā (s), un iegūstot līknes s/z un līknes z/s vērtības, kur redzama viennozīmīga NaErF4 temperatūras atkarība: katra s/z vai z/s vērtība ir raksturīga tikai vienai noteiktai temperatūrai. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_LV15697A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>LV15697A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_LV15697A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPAJDXZV8HdT8HCNcHT393P0UQj2d_EM9VVwDXICUW4-of5Bni6uCm7-QQr-ASGezkAlvq6OwaFBnn7uIJ0hrr4BrkGOIaFBrjwMrGmJOcWpvFCam0HWzTXE2UM3tSA_PrW4IDE5NS-1JN4nzNDUzNLc0ZiQPABeYiyO</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>USE OF HEXAGONAL SODIUM ERBIUM FLUORIDE FOR OPTICAL MEASURING OF TEMPERATURE</title><source>esp@cenet</source><creator>ANTUZEVIČS, Andris ; KRIEĶE, Guna ; DOĶE, Guna ; SPRIŅĢIS, Māris ; ĶEMERE, Meldra ; ROGULIS, Uldis</creator><creatorcontrib>ANTUZEVIČS, Andris ; KRIEĶE, Guna ; DOĶE, Guna ; SPRIŅĢIS, Māris ; ĶEMERE, Meldra ; ROGULIS, Uldis</creatorcontrib><description>Izgudrojums attiecas uz vielām un paņēmieniem mērāmās vides temperatūras optiskai noteikšanai 100-300 K diapazonā, kā arī uz polikristālisko materiālu NaErF4. Tiek piedāvāts polikristāliska materiāla NaErF4 jauns pielietojums, kur mērāmās vides temperatūras noteikšanu veic, polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscenci ierosinot ar 383-488 nm lāzera vai diodes starojumu un iegūto materiāla fotoluminiscences joslu attiecības salīdzinot ar iepriekš noteiktām vērtībām. Tiek piedāvāts arī paņēmiens polikristāliska NaErF4 materiāla izmantošanai optiskai temperatūras noteikšanai 100-300 K diapazonā, kas ietver šādus secīgus soļus: (i) polikristāliska NaErF4 materiāla ievietošana mērāmā vidē; (ii) polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscences ierosināšana ar ierosmes avotu ar ultravioleto starojumu un zilo gaismu; (iii) mērāmās vides temperatūras noteikšana, salīdzinot polikristāliska NaErF4 fotoluminiscences joslu intensitātes attiecības (FIR) ar iepriekš noteiktām vērtībām, savstarpēji izdalot integrētas joslu intensitātes spektrālajos apgabalos: 500-610 nm zaļajā joslā (z) un 620-720 nm sarkanajā joslā (s), un iegūstot līknes s/z un līknes z/s vērtības, kur redzama viennozīmīga NaErF4 temperatūras atkarība: katra s/z vai z/s vērtība ir raksturīga tikai vienai noteiktai temperatūrai.</description><language>eng ; lav</language><subject>MEASURING ; MEASURING QUANTITY OF HEAT ; MEASURING TEMPERATURE ; PHYSICS ; TESTING ; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20221220&DB=EPODOC&CC=LV&NR=15697A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20221220&DB=EPODOC&CC=LV&NR=15697A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ANTUZEVIČS, Andris</creatorcontrib><creatorcontrib>KRIEĶE, Guna</creatorcontrib><creatorcontrib>DOĶE, Guna</creatorcontrib><creatorcontrib>SPRIŅĢIS, Māris</creatorcontrib><creatorcontrib>ĶEMERE, Meldra</creatorcontrib><creatorcontrib>ROGULIS, Uldis</creatorcontrib><title>USE OF HEXAGONAL SODIUM ERBIUM FLUORIDE FOR OPTICAL MEASURING OF TEMPERATURE</title><description>Izgudrojums attiecas uz vielām un paņēmieniem mērāmās vides temperatūras optiskai noteikšanai 100-300 K diapazonā, kā arī uz polikristālisko materiālu NaErF4. Tiek piedāvāts polikristāliska materiāla NaErF4 jauns pielietojums, kur mērāmās vides temperatūras noteikšanu veic, polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscenci ierosinot ar 383-488 nm lāzera vai diodes starojumu un iegūto materiāla fotoluminiscences joslu attiecības salīdzinot ar iepriekš noteiktām vērtībām. Tiek piedāvāts arī paņēmiens polikristāliska NaErF4 materiāla izmantošanai optiskai temperatūras noteikšanai 100-300 K diapazonā, kas ietver šādus secīgus soļus: (i) polikristāliska NaErF4 materiāla ievietošana mērāmā vidē; (ii) polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscences ierosināšana ar ierosmes avotu ar ultravioleto starojumu un zilo gaismu; (iii) mērāmās vides temperatūras noteikšana, salīdzinot polikristāliska NaErF4 fotoluminiscences joslu intensitātes attiecības (FIR) ar iepriekš noteiktām vērtībām, savstarpēji izdalot integrētas joslu intensitātes spektrālajos apgabalos: 500-610 nm zaļajā joslā (z) un 620-720 nm sarkanajā joslā (s), un iegūstot līknes s/z un līknes z/s vērtības, kur redzama viennozīmīga NaErF4 temperatūras atkarība: katra s/z vai z/s vērtība ir raksturīga tikai vienai noteiktai temperatūrai.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING QUANTITY OF HEAT</subject><subject>MEASURING TEMPERATURE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><subject>THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPAJDXZV8HdT8HCNcHT393P0UQj2d_EM9VVwDXICUW4-of5Bni6uCm7-QQr-ASGezkAlvq6OwaFBnn7uIJ0hrr4BrkGOIaFBrjwMrGmJOcWpvFCam0HWzTXE2UM3tSA_PrW4IDE5NS-1JN4nzNDUzNLc0ZiQPABeYiyO</recordid><startdate>20221220</startdate><enddate>20221220</enddate><creator>ANTUZEVIČS, Andris</creator><creator>KRIEĶE, Guna</creator><creator>DOĶE, Guna</creator><creator>SPRIŅĢIS, Māris</creator><creator>ĶEMERE, Meldra</creator><creator>ROGULIS, Uldis</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20221220</creationdate><title>USE OF HEXAGONAL SODIUM ERBIUM FLUORIDE FOR OPTICAL MEASURING OF TEMPERATURE</title><author>ANTUZEVIČS, Andris ; KRIEĶE, Guna ; DOĶE, Guna ; SPRIŅĢIS, Māris ; ĶEMERE, Meldra ; ROGULIS, Uldis</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_LV15697A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; lav</language><creationdate>2022</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING QUANTITY OF HEAT</topic><topic>MEASURING TEMPERATURE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><topic>THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ANTUZEVIČS, Andris</creatorcontrib><creatorcontrib>KRIEĶE, Guna</creatorcontrib><creatorcontrib>DOĶE, Guna</creatorcontrib><creatorcontrib>SPRIŅĢIS, Māris</creatorcontrib><creatorcontrib>ĶEMERE, Meldra</creatorcontrib><creatorcontrib>ROGULIS, Uldis</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ANTUZEVIČS, Andris</au><au>KRIEĶE, Guna</au><au>DOĶE, Guna</au><au>SPRIŅĢIS, Māris</au><au>ĶEMERE, Meldra</au><au>ROGULIS, Uldis</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>USE OF HEXAGONAL SODIUM ERBIUM FLUORIDE FOR OPTICAL MEASURING OF TEMPERATURE</title><date>2022-12-20</date><risdate>2022</risdate><abstract>Izgudrojums attiecas uz vielām un paņēmieniem mērāmās vides temperatūras optiskai noteikšanai 100-300 K diapazonā, kā arī uz polikristālisko materiālu NaErF4. Tiek piedāvāts polikristāliska materiāla NaErF4 jauns pielietojums, kur mērāmās vides temperatūras noteikšanu veic, polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscenci ierosinot ar 383-488 nm lāzera vai diodes starojumu un iegūto materiāla fotoluminiscences joslu attiecības salīdzinot ar iepriekš noteiktām vērtībām. Tiek piedāvāts arī paņēmiens polikristāliska NaErF4 materiāla izmantošanai optiskai temperatūras noteikšanai 100-300 K diapazonā, kas ietver šādus secīgus soļus: (i) polikristāliska NaErF4 materiāla ievietošana mērāmā vidē; (ii) polikristāliskā materiāla NaErF4 luminiscences ierosināšana ar ierosmes avotu ar ultravioleto starojumu un zilo gaismu; (iii) mērāmās vides temperatūras noteikšana, salīdzinot polikristāliska NaErF4 fotoluminiscences joslu intensitātes attiecības (FIR) ar iepriekš noteiktām vērtībām, savstarpēji izdalot integrētas joslu intensitātes spektrālajos apgabalos: 500-610 nm zaļajā joslā (z) un 620-720 nm sarkanajā joslā (s), un iegūstot līknes s/z un līknes z/s vērtības, kur redzama viennozīmīga NaErF4 temperatūras atkarība: katra s/z vai z/s vērtība ir raksturīga tikai vienai noteiktai temperatūrai.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; lav |
recordid | cdi_epo_espacenet_LV15697A |
source | esp@cenet |
subjects | MEASURING MEASURING QUANTITY OF HEAT MEASURING TEMPERATURE PHYSICS TESTING THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR |
title | USE OF HEXAGONAL SODIUM ERBIUM FLUORIDE FOR OPTICAL MEASURING OF TEMPERATURE |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-10T18%3A34%3A11IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=ANTUZEVI%C4%8CS,%20Andris&rft.date=2022-12-20&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ELV15697A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |