SCALAR MAGNETIC FIELD MEASURING PROBE
The invention relates to measuring devices. The probe transforms the values of magnetic induction into an electrical signal i.e. a change of resistance, using three magnetoresistive manganite thin-film sensors. These sensors are mounted perpendicular to each other and connected in the electrical cir...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; lit |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | The invention relates to measuring devices. The probe transforms the values of magnetic induction into an electrical signal i.e. a change of resistance, using three magnetoresistive manganite thin-film sensors. These sensors are mounted perpendicular to each other and connected in the electrical circuit in series what results in several times less measurement error caused by the change of the direction of the magnetic field in comparison with a single magnetoresistive sensor. The invention can be used in measurement, control and monitoring systems where measurements of continuous or variable scalar magnetic flux density are performed.
Išradimas susijęs su matavimo priemonėmis. Zondas transformuoja magnetinės indukcijos reikšmes į elektrinį signalą - varžos pokytį, panaudojant tris magnetovaržinius manganito plonasluoksnius jutiklius. Sumontavus šiuos jutiklius statmenai vienas kitam ir sujungus nuosekliai į elektrinę grandinę, gaunama kelis kartus mažesnė matavimo paklaida dėl magnetinio lauko krypties pasikeitimo, negu naudojant vieną magnetovaržinį jutiklį. Išradimas gali būti panaudotas matavimo, kontrolės ir monitoringo sistemose, kuriose yra atliekami nuolatinio arba kintančio skaliarinio magnetinio srauto tankio matavimai. |
---|