Associated indicator substance inspection device for gas samples

본 발명은 가스에 포함된 부숙지표물질 분석을 위한 가스시료 검사장치에 있어서, 가스시료를 포집하는 챔버(200)와, 상기 챔버(200)에 포집된 가스시료의 수분을 제거하는 수분제거기(90)와, 상기 수분이 제거된 가스시료를 측정센서로 공급하는 시료공급부와, 상기 시료공급부를 통해 공급된 가스시료를 분석하는 센서(400)로 이루어져 상기 가스시료에 포함된 부숙지표물질을 측정하는 것을 특징으로 하는 가스시료의 부숙지표물질 검사장치가 제공된다....

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Hauptverfasser: JEE JAE LIM, DAE CHEOL GWAK, HO SUNG CHO, SHIM, CHANG HYUN, LEE SOO HYUNG
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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creator JEE JAE LIM
DAE CHEOL GWAK
HO SUNG CHO
SHIM, CHANG HYUN
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description 본 발명은 가스에 포함된 부숙지표물질 분석을 위한 가스시료 검사장치에 있어서, 가스시료를 포집하는 챔버(200)와, 상기 챔버(200)에 포집된 가스시료의 수분을 제거하는 수분제거기(90)와, 상기 수분이 제거된 가스시료를 측정센서로 공급하는 시료공급부와, 상기 시료공급부를 통해 공급된 가스시료를 분석하는 센서(400)로 이루어져 상기 가스시료에 포함된 부숙지표물질을 측정하는 것을 특징으로 하는 가스시료의 부숙지표물질 검사장치가 제공된다.
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