Pin block head of probe unit block for display panel inspection and manufacturing method thereof

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 블록의 핀 블록 헤드 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 블록 헤드는, 디스플레이 패널에 구비된 복수의 단자에 전기적으로 연결되며, 검사 장치로부터 전송된 신호를 이용하여 디스플레이 패널의 상태를 검사하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 블록의 핀 블록 헤드에 있어서, 일단은 검사 장치에 전기적으로 연결되고, 타단은 디스플레이 패널에 구비된 복수의 단자 각각에 전기적으로 연결되며, 길이 방향을 따라 탄성을 가지도록 형성된 복수의 금속 핀; 전단에 복...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PARK YEONG GUK, JEON, HYUNG KEUN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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