Test tray and test handler having the same

본 발명은 반도체 패키지에 대한 전기적인 검사 공정을 수행하기 위하여 반도체 패키지를 수납하는 테스트 트레이 및 이를 포함하는 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 반도체 패키지를 수납하기 위한 적어도 하나의 포켓이 형성된 인서트 조립체와, 상기 인서트 조립체가 장착되는 장착홈부가 형성되고, 상기 인서트 조립체를 장착면으로부터 노출시키기 위해 상기 장착홈부의 바닥부가 개구된 트레이 본체 및 상기 트레이 본체에 장착된 상기 인서트 조립체가 상기 장착면으로부터 소정의 높이로 탄성적으로 부상(Floating)될 수 있도록, 상기 트레이 본체와...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	LEE CHANG TAEK
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은 반도체 패키지에 대한 전기적인 검사 공정을 수행하기 위하여 반도체 패키지를 수납하는 테스트 트레이 및 이를 포함하는 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 반도체 패키지를 수납하기 위한 적어도 하나의 포켓이 형성된 인서트 조립체와, 상기 인서트 조립체가 장착되는 장착홈부가 형성되고, 상기 인서트 조립체를 장착면으로부터 노출시키기 위해 상기 장착홈부의 바닥부가 개구된 트레이 본체 및 상기 트레이 본체에 장착된 상기 인서트 조립체가 상기 장착면으로부터 소정의 높이로 탄성적으로 부상(Floating)될 수 있도록, 상기 트레이 본체와 상기 인서트 조립체의 사이에 설치되어, 상기 인서트 조립체가 상기 트레이 본체에 장착되는 방향과 반대 방향으로 상기 인서트 조립체를 탄성적으로 가압하는 부상 유닛을 포함할 수 있다.