METHOD FOR SCORING TEST BASED ON MEASURING TIME REQUIRED FOR SOLVING QUESTIONS
본 개시는, 적어도 하나의 프로세서에 의해 수행되는 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법에 관한 것이다. 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법은 복수의 시험 종류 중 하나를 선택하는 사용자 입력을 수신하여 시험 종류를 결정하는 단계, 상기 결정된 시험 종류에 해당하는 하나 이상의 문제들로 구성된 제1 테스트 세트를 생성하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 상기 문제에 배정된 점수에 따라 차등하여 예상 문제 풀이 시간을 결정하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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container_end_page | |
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container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | PARK, MYOUNG JAE |
description | 본 개시는, 적어도 하나의 프로세서에 의해 수행되는 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법에 관한 것이다. 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법은 복수의 시험 종류 중 하나를 선택하는 사용자 입력을 수신하여 시험 종류를 결정하는 단계, 상기 결정된 시험 종류에 해당하는 하나 이상의 문제들로 구성된 제1 테스트 세트를 생성하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 상기 문제에 배정된 점수에 따라 차등하여 예상 문제 풀이 시간을 결정하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 실제 문제 풀이에 소요된 시간을 측정하는 단계 및 상기 결정된 예상 문제 풀이 시간 및 상기 측정된 실제 문제 풀이 소요 시간에 기초하여, 상기 제1 테스트 세트의 점수를 산출하는 단계를 포함한다. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20240065358A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20240065358A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20240065358A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPDzdQ3x8HdRcPMPUgh29g_y9HNXCHENDlFwcgx2dVHw91PwdXUMDoWIe_q6KgS5BoZ6BrlCdfj7hIFkAkOBWjz9_YJ5GFjTEnOKU3mhNDeDsptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakm8d5CRgZGJgYGZqbGphaMxcaoA07Qvfw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD FOR SCORING TEST BASED ON MEASURING TIME REQUIRED FOR SOLVING QUESTIONS</title><source>esp@cenet</source><creator>PARK, MYOUNG JAE</creator><creatorcontrib>PARK, MYOUNG JAE</creatorcontrib><description>본 개시는, 적어도 하나의 프로세서에 의해 수행되는 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법에 관한 것이다. 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법은 복수의 시험 종류 중 하나를 선택하는 사용자 입력을 수신하여 시험 종류를 결정하는 단계, 상기 결정된 시험 종류에 해당하는 하나 이상의 문제들로 구성된 제1 테스트 세트를 생성하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 상기 문제에 배정된 점수에 따라 차등하여 예상 문제 풀이 시간을 결정하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 실제 문제 풀이에 소요된 시간을 측정하는 단계 및 상기 결정된 예상 문제 풀이 시간 및 상기 측정된 실제 문제 풀이 소요 시간에 기초하여, 상기 제1 테스트 세트의 점수를 산출하는 단계를 포함한다.</description><language>eng ; kor</language><subject>ADVERTISING ; APPLIANCES FOR TEACHING, OR COMMUNICATING WITH, THE BLIND,DEAF OR MUTE ; CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; CRYPTOGRAPHY ; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES ; DIAGRAMS ; DISPLAY ; EDUCATION ; EDUCATIONAL OR DEMONSTRATION APPLIANCES ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; GLOBES ; PHYSICS ; PLANETARIA ; SEALS ; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240514&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240065358A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240514&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240065358A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>PARK, MYOUNG JAE</creatorcontrib><title>METHOD FOR SCORING TEST BASED ON MEASURING TIME REQUIRED FOR SOLVING QUESTIONS</title><description>본 개시는, 적어도 하나의 프로세서에 의해 수행되는 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법에 관한 것이다. 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법은 복수의 시험 종류 중 하나를 선택하는 사용자 입력을 수신하여 시험 종류를 결정하는 단계, 상기 결정된 시험 종류에 해당하는 하나 이상의 문제들로 구성된 제1 테스트 세트를 생성하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 상기 문제에 배정된 점수에 따라 차등하여 예상 문제 풀이 시간을 결정하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 실제 문제 풀이에 소요된 시간을 측정하는 단계 및 상기 결정된 예상 문제 풀이 시간 및 상기 측정된 실제 문제 풀이 소요 시간에 기초하여, 상기 제1 테스트 세트의 점수를 산출하는 단계를 포함한다.</description><subject>ADVERTISING</subject><subject>APPLIANCES FOR TEACHING, OR COMMUNICATING WITH, THE BLIND,DEAF OR MUTE</subject><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>CRYPTOGRAPHY</subject><subject>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</subject><subject>DIAGRAMS</subject><subject>DISPLAY</subject><subject>EDUCATION</subject><subject>EDUCATIONAL OR DEMONSTRATION APPLIANCES</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>GLOBES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>PLANETARIA</subject><subject>SEALS</subject><subject>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPDzdQ3x8HdRcPMPUgh29g_y9HNXCHENDlFwcgx2dVHw91PwdXUMDoWIe_q6KgS5BoZ6BrlCdfj7hIFkAkOBWjz9_YJ5GFjTEnOKU3mhNDeDsptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakm8d5CRgZGJgYGZqbGphaMxcaoA07Qvfw</recordid><startdate>20240514</startdate><enddate>20240514</enddate><creator>PARK, MYOUNG JAE</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240514</creationdate><title>METHOD FOR SCORING TEST BASED ON MEASURING TIME REQUIRED FOR SOLVING QUESTIONS</title><author>PARK, MYOUNG JAE</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20240065358A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2024</creationdate><topic>ADVERTISING</topic><topic>APPLIANCES FOR TEACHING, OR COMMUNICATING WITH, THE BLIND,DEAF OR MUTE</topic><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>CRYPTOGRAPHY</topic><topic>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</topic><topic>DIAGRAMS</topic><topic>DISPLAY</topic><topic>EDUCATION</topic><topic>EDUCATIONAL OR DEMONSTRATION APPLIANCES</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>GLOBES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>PLANETARIA</topic><topic>SEALS</topic><topic>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>PARK, MYOUNG JAE</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>PARK, MYOUNG JAE</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD FOR SCORING TEST BASED ON MEASURING TIME REQUIRED FOR SOLVING QUESTIONS</title><date>2024-05-14</date><risdate>2024</risdate><abstract>본 개시는, 적어도 하나의 프로세서에 의해 수행되는 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법에 관한 것이다. 문제 풀이 소요 시간 계측 기반 시험 점수 산출 방법은 복수의 시험 종류 중 하나를 선택하는 사용자 입력을 수신하여 시험 종류를 결정하는 단계, 상기 결정된 시험 종류에 해당하는 하나 이상의 문제들로 구성된 제1 테스트 세트를 생성하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 상기 문제에 배정된 점수에 따라 차등하여 예상 문제 풀이 시간을 결정하는 단계, 상기 제1 테스트 세트의 하나 이상의 문제에 대하여, 실제 문제 풀이에 소요된 시간을 측정하는 단계 및 상기 결정된 예상 문제 풀이 시간 및 상기 측정된 실제 문제 풀이 소요 시간에 기초하여, 상기 제1 테스트 세트의 점수를 산출하는 단계를 포함한다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; kor |
recordid | cdi_epo_espacenet_KR20240065358A |
source | esp@cenet |
subjects | ADVERTISING APPLIANCES FOR TEACHING, OR COMMUNICATING WITH, THE BLIND,DEAF OR MUTE CALCULATING COMPUTING COUNTING CRYPTOGRAPHY DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES DIAGRAMS DISPLAY EDUCATION EDUCATIONAL OR DEMONSTRATION APPLIANCES ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING GLOBES PHYSICS PLANETARIA SEALS SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR |
title | METHOD FOR SCORING TEST BASED ON MEASURING TIME REQUIRED FOR SOLVING QUESTIONS |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-05T20%3A27%3A00IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=PARK,%20MYOUNG%20JAE&rft.date=2024-05-14&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20240065358A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |