Contact unit for inspecting display panel

본 발명은 복수의 프로브블록을 이용하여 디스플레이 패널에 대한 점등검사를 수행하는 디스플레이 패널 검사용 컨택유닛에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 컨택유닛은 검사 대상이 되는 디스플레이 패널에 대향되도록 수평 배치된 베이스블록(100)과, 상기 베이스블록의 전면에 좌우로 이동가능하게 설치된 복수의 이동블록(200)과, 각 이동블록 마다 설치된 프로브블록(300)과, 각 이동블록 마다 설치되어 해당 이동블록을 좌우로 이동시키는 수평이동부(400)와, 상기 디스플레이 패널의 전극패드와 프로브블록이 접촉 또는 분리되도록...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	HONG HYUN SU, JUNG IN KEUN, YOO HYUN JAE, PARK KUM SUNG, CHUN BYUNG GU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
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