X선에 의해 조명된 물체를 이미징하기 위한 이미징 광학 장치

이미징 광학 장치는 X선에 의해 조명된 물체를 이미징하는 역할을 한다. 이미징 광학계는 필드 평면의 전송 필드를 검출 평면의 검출 필드로 이미징하는 역할을 한다. 신틸레이터 재료 층이 전송 필드에 배열된다. 이미징 광학계의 동공 평면에 조리개가 배열된다. 이미징 광학계는 광축을 갖는다. 조리개의 조리개 개구의 중심은 광축에 대해 탈중심화 거리에 배열된다. 이러한 이미징 광학 장치는 전송 필드에 진입하는 X선의 틸트에 무관하게 물체의 고품질 이미징을 보장한다. 이미징 광학 장치는 검출 어레이와 물체 장착부를 더 포함하는 검출 조립체의...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GREGORICH THOMAS MATTHEW, CASE THOMAS ANTHONY, KRAMPERT GERHARD, ATKINSON MORA JUAN, RUOFF JOHANNES, FELDMANN HEIKO, GRAF VOM HAGEN CHRISTOPH HILMAR
Format:	Patent
Sprache:	kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION MEASURING PHYSICS TESTING
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