TYPE OF CRANIOFACIAL ANOMALY CLASSIFICATION METHOD USING CEPHALOMETRIC RADIOGRAPHS AND ANALYSIS APPARATUS

방사선 두부 영상을 이용하여 안면기형의 종류를 분류하는 방법은 분석장치가 대상자의 방사선 두부 영상을 입력받는 단계, 상기 분석장치가 상기 방사선 두부 영상에서 계측점들을 검출하는 단계, 상기 분석장치가 상기 계측점들을 기준으로 입력 파라미터들을 산출하는 단계, 상기 분석장치가 상기 입력 파라미터들을 사전에 학습된 분류모델에 입력하는 단계 및 상기 분석장치가 상기 분류모델이 출력하는 값을 기준으로 상기 대상자의 안면기형의 종류를 결정하는 단계를 포함한다....

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Hauptverfasser: HAEWON CHOI, HYUNGGUN KIM, SEONG MIN KIM, WOOJAE HONG, JUN YOUNG PAENG
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Zusammenfassung:방사선 두부 영상을 이용하여 안면기형의 종류를 분류하는 방법은 분석장치가 대상자의 방사선 두부 영상을 입력받는 단계, 상기 분석장치가 상기 방사선 두부 영상에서 계측점들을 검출하는 단계, 상기 분석장치가 상기 계측점들을 기준으로 입력 파라미터들을 산출하는 단계, 상기 분석장치가 상기 입력 파라미터들을 사전에 학습된 분류모델에 입력하는 단계 및 상기 분석장치가 상기 분류모델이 출력하는 값을 기준으로 상기 대상자의 안면기형의 종류를 결정하는 단계를 포함한다.