APPARATUS FOR MEASURING PROPERTIES OF ELASTIC BODY USING OPTICAL SIGNAL

본 발명은 광신호를 이용하여 비접촉으로 탄성체의 성질을 측정하는 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 탄성체 성질 측정 장치는 비접촉으로 탄성체의 성질을 측정하는 장치에 있어서, 검사광을 생성하는 광원, 상기 광원부에서 출력된 검사광을 반사시키는 미러부, 탄성체에 음향파를 인가하는 제너레이터, 상기 광원에서 출력된 검사광을 상기 탄성체로 조사하고, 상기 음향파에 따른 상기 탄성체의 진동으로 인한 광신호를 수신하는 프로브부, 상기 광원에서 출력된 검사광을 상기 미러부와 상기 프로브부로 분기시키고, 상기 미러부에서 반사된...

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Hauptverfasser: LEE HAN SOL, LEE BYEONG HA, CHO BO BAE, KIM YOUNG GUE, YOON TAE IL
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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creator LEE HAN SOL
LEE BYEONG HA
CHO BO BAE
KIM YOUNG GUE
YOON TAE IL
description 본 발명은 광신호를 이용하여 비접촉으로 탄성체의 성질을 측정하는 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 탄성체 성질 측정 장치는 비접촉으로 탄성체의 성질을 측정하는 장치에 있어서, 검사광을 생성하는 광원, 상기 광원부에서 출력된 검사광을 반사시키는 미러부, 탄성체에 음향파를 인가하는 제너레이터, 상기 광원에서 출력된 검사광을 상기 탄성체로 조사하고, 상기 음향파에 따른 상기 탄성체의 진동으로 인한 광신호를 수신하는 프로브부, 상기 광원에서 출력된 검사광을 상기 미러부와 상기 프로브부로 분기시키고, 상기 미러부에서 반사된 광신호와 상기 프로브부에서 수신된 광신호를 간섭시켜 분기시키는 커플러 및 상기 커플러에서 분기된 간섭신호의 주파수를 분리하고, 상기 분리된 각 주파수의 신호에 기초하여 상기 탄성체의 진동 전파속도를 결정하는 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 한다.
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